上(shang)海千實(shi)精(jing)密機(ji)電(dian)科(ke)技有(you)限公(gong)司研發(fa)生產的(de)織(zhi)物(wu)防靜(jing)電(dian)性(xing)檢(jian)測儀(yi)/醫(yi)用服靜(jing)電(dian)衰(shuai)減(jian)測試(shi)儀(yi)采(cai)用直(zhi)流(liu)充電(dian)法(fa)測試(shi)材(cai)料(liao)的紡織(zhi)性(xing)能(neng)檢(jian)測儀(yi)/靜(jing)電(dian)衰(shuai)減(jian)測試(shi)儀(yi)，以(yi)評估(gu)其(qi)靜(jing)電(dian)特(te)性(xing)。

　　上(shang)海千實(shi)精(jing)密機(ji)電(dian)科(ke)技有(you)限公(gong)司研發(fa)生產的(de)織(zhi)物(wu)防靜(jing)電(dian)性(xing)檢(jian)測儀(yi)/醫(yi)用服靜(jing)電(dian)衰(shuai)減(jian)測試(shi)儀(yi)采(cai)用直(zhi)流(liu)充電(dian)法(fa)測試(shi)材(cai)料(liao)的靜(jing)電(dian)衰(shuai)減(jian)特(te)征(zheng)，以評估(gu)其(qi)靜(jing)電(dian)特(te)性(xing)。

　　應用範(fan)圍：

　　1.用於實(shi)驗(yan)室分(fen)析(xi)材(cai)料(liao)自身(shen)的靜(jing)電(dian)特(te)性(xing)、評估(gu)抗靜(jing)電(dian)添加劑(ji)的功效、發(fa)展(zhan)新(xin)型(xing)靜(jing)電(dian)防護材(cai)料(liao);

　　2.用於在(zai)生產制(zhi)造(zao)領域作為(wei)產品(pin)質量控制設備，依據(ju)各(ge)種標準規範(fan)來進行靜(jing)電(dian)特(te)性(xing)檢(jian)測和監測。

　　符合(he)標準：

　　美國(guo)無紡布(bu)靜(jing)電(dian)衰(shuai)減(jian)測試(shi)標準IST 40.2(01)，美國(guo)聯邦標準FED-STD-101C(Method 4046)，MIL-B-81705C，美軍(jun)標MIL-PRF-81705D，中國GB 19082，GJB2625

　　織(zhi)物(wu)防靜(jing)電(dian)性(xing)檢(jian)測儀(yi)/醫(yi)用服靜(jing)電(dian)衰(shuai)減(jian)測試(shi)儀(yi)技(ji)術(shu)參(can)數：

　　1.充(chong)電電(dian)壓(ya)：0～5.5kV;

　　2.誤(wu)差(cha)期(qi)設置：50%、10%、1%(0);

　　3.電壓(ya)表(biao)量程(cheng)：0-5kV;

　　4.計(ji)時器(qi)量(liang)程(cheng)：1-99.99s;

　　5.計時分(fen)辨率(lv)：0.01s;

　　6.測試(shi)模(mo)式(shi)：手(shou)動(dong)、自動(dong)(只(zhi)能測試(shi)從(cong)5kV開始(shi)的(de)衰減);

　　7.自動(dong)測試(shi)次(ci)數：1-9次(ci);

　　8.測試(shi)時間間隔(ge)：1-25秒(miao);

　　9.輸(shu)入(ru)電(dian)源：86-264VAC，50/60Hz。

　　技(ji)術(shu)特(te)點(dian)：

　　1.406D配置的磁(ci)吸棒(bang)用於薄膜(mo)和布(bu)匹(pi)材(cai)料(liao)的測試(shi)，金屬(shu)夾(jia)具可以測試(shi)較厚(hou)的(de)塊(kuai)狀物(wu)、發(fa)泡物(wu)或其(qi)他(ta)形(xing)狀(zhuang)和質(zhi)地(di)的(de)材(cai)料(liao);2.選配IC管(guan)型(xing)夾(jia)具可以無(wu)損(sun)測試(shi)IC芯片包(bao)裝(zhuang)管(guan);

　　3.選(xuan)配806B無(wu)損(sun)測試(shi)電極可以直(zhi)接放(fang)置在(zai)試(shi)樣上(shang)，還可以測試(shi)粉體(ti)和液(ye)體(ti)靜(jing)電(dian)衰(shuai)減(jian)時間;

　　4.配套(tao)法(fa)拉(la)第測試(shi)籠提(ti)供(gong)壹個(ge)屏(ping)蔽空間，試(shi)樣放(fang)置在(zai)法(fa)拉(la)第籠內進(jin)行測試(shi)，法(fa)拉(la)第籠通(tong)過配套(tao)連接線連接406D主機(ji);

　　5.法(fa)拉(la)第籠具有(you)互鎖(suo)裝(zhuang)置，打開(kai)法(fa)拉(la)第籠時，高(gao)壓(ya)電源輸(shu)出被切(qie)斷(duan);

　　6.STM-2驗(yan)證模(mo)塊(kuai)提(ti)供(gong)壹個(ge)標準的電(dian)阻，電容(rong)直(zhi)接采(cai)取系統(tong)電容，通(tong)過測試(shi)STM-2標準模(mo)塊(kuai)可以驗(yan)證是(shi)否正常;

　　7.位(wei)於法(fa)拉(la)第籠內的(de)靜(jing)電(dian)壓(ya)探測頭可以卸下(xia)，放(fang)置在(zai)806B無損電(dian)極上(shang)後，可以直(zhi)接測試(shi)粉體(ti)、液(ye)體(ti)和固(gu)體(ti)試(shi)樣;

　　8.顯示：指針式(shi)充(chong)電(dian)電壓(ya)表(biao)(右)、指(zhi)針式(shi)試(shi)樣電壓(ya)表(biao)(左)、數顯(xian)計時器(qi)(中(zhong))，彩(cai)色LED燈指示各個操作(zuo)進(jin)程(cheng)。

　　標準配置：

　　1.406D測試(shi)主機(ji);

　　2.法(fa)拉(la)第測試(shi)籠;

　　3.磁性(xing)固定(ding)電(dian)極(ji);

　　4.條形(xing)夾(jia)具;

　　5.STM-2驗(yan)證模(mo)塊(kuai);

　　6.選配：806B無(wu)損(sun)測試(shi)電極。

　　註(zhu)意(yi)事(shi)項：

　　1、試(shi)驗(yan)過程(cheng)中(zhong)，若空壓(ya)機頻繁(fan)啟動(dong)，說明氣(qi)體(ti)損(sun)耗(hao)大(da)，屬(shu)正常情況。

　　2、若開始(shi)試(shi)驗(yan)後，觀(guan)察(cha)到氣(qi)流(liu)阻力(li)顯(xian)示表(biao)上(shang)出現“ERROR"字(zi)樣(yang)，說明該(gai)試(shi)樣氣(qi)阻力(li)已超設定值500Pa，必(bi)須(xu)立即按下(xia)“測試(shi)結束"按鍵(jian)，保(bao)護儀(yi)器(qi)。

　　3、氣(qi)流(liu)阻力(li)顯(xian)示表(biao)所有(you)參(can)數已設定好(hao)，非(fei)專(zhuan)業(ye)維(wei)修人(ren)員不(bu)得擅自修改(gai)。

　　4、流(liu)量計(ji)壹定(ding)要在(zai)流(liu)量範(fan)圍內使(shi)用，嚴(yan)禁(jin)超量(liang)程(cheng)使(shi)用。

　　5、若發(fa)現流(liu)量計(ji)內轉子上(shang)灰塵(chen)雜質太多，影響(xiang)讀數精(jing)度，則(ze)打(da)開(kai)儀(yi)器(qi)後蓋(gai)板，打(da)開(kai)箱體(ti)內手動(dong)球閥(fa)，然後通(tong)上(shang)氣(qi)源(yuan)，進(jin)行流(liu)量計(ji)的清(qing)洗。(平時使(shi)用狀(zhuang)態(tai)，箱內(nei)球(qiu)閥(fa)壹定(ding)要處(chu)於關(guan)閉狀態(tai)。)

　　6、儀(yi)器(qi)說明書(shu)中(zhong)未(wei)出現的(de)調節閥，試(shi)驗(yan)過程(cheng)中(zhong)壹律(lv)不(bu)要擅(shan)自調節。