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紡(fang)織及服裝(zhuang)測(ce)試(shi)儀
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ETS406D靜電衰減(jian)測(ce)試(shi)儀采(cai)用直流(liu)充電法測(ce)試(shi)材料(liao)的(de)靜(jing)電衰減(jian)特征,以(yi)評(ping)估其靜(jing)電特性(xing)。
1.用(yong)於(yu)實驗室分(fen)析(xi)材料(liao)自(zi)身(shen)的靜電特性(xing)、評估抗(kang)靜電添加劑(ji)的(de)功(gong)效(xiao)、發(fa)展新(xin)型(xing)靜電防(fang)護材料(liao);
2.用(yong)於(yu)在(zai)生產制造(zao)領域(yu)作為(wei)產品(pin)質(zhi)量控(kong)制(zhi)設(she)備,依(yi)據(ju)各(ge)種標(biao)準規(gui)範來進(jin)行(xing)靜電特性(xing)檢測(ce)和(he)監測(ce)。
美(mei)國(guo)無紡(fang)布靜電衰減(jian)測(ce)試(shi)標準IST 40.2(01),美(mei)國(guo)聯邦標(biao)準FED-STD-101C(Method 4046),美(mei)標(biao)MIL-B-81705C,美軍標MIL-PRF-81705D,中國(guo)GB 19082,中標GJB2625

1.充電電壓:0~5.5kV;
2.誤差期(qi)設置:50%、10%、1%(0);
3.電壓表量程(cheng):0-5kV;
4.計時器量程(cheng):1-99.99s;
5.計時分(fen)辨率(lv):0.01s;
6.測(ce)試(shi)模式:手(shou)動、自(zi)動(dong)(只(zhi)能(neng)測(ce)試(shi)從5kV開(kai)始的(de)衰(shuai)減(jian));
7.自動(dong)測(ce)試(shi)次數:1-9次;
8.測(ce)試(shi)時間(jian)間(jian)隔:1-25秒;
9.輸入電源:86-264VAC,50/60Hz。

1.406D配置的磁(ci)吸(xi)棒用於(yu)薄膜(mo)和(he)布匹(pi)材料(liao)的(de)測(ce)試(shi),金(jin)屬(shu)夾具(ju)可(ke)以(yi)測(ce)試(shi)較厚(hou)的(de)塊狀物、發(fa)泡物或(huo)其他形(xing)狀和(he)質(zhi)地的材料(liao);2.選(xuan)配(pei)IC管型(xing)夾具(ju)可(ke)以(yi)無損測(ce)試(shi)IC芯片(pian)包裝(zhuang)管(guan);
3.選(xuan)配(pei)806B無損測(ce)試(shi)電極可(ke)以(yi)直接(jie)放(fang)置在試(shi)樣上,還(hai)可(ke)以(yi)測(ce)試(shi)粉(fen)體(ti)和(he)液(ye)體(ti)靜(jing)電衰減(jian)時間(jian);
4.配(pei)套法拉(la)第(di)測(ce)試(shi)籠提(ti)供壹(yi)個(ge)屏蔽(bi)空間,試(shi)樣放(fang)置在法(fa)拉(la)第(di)籠內進(jin)行(xing)測(ce)試(shi),法拉(la)第(di)籠通過(guo)配套(tao)連(lian)接(jie)線連(lian)接(jie)406D主機(ji);
5.法(fa)拉(la)第(di)籠具(ju)有互(hu)鎖(suo)裝(zhuang)置,打開(kai)法(fa)拉(la)第(di)籠時,高(gao)壓電源輸出被切(qie)斷;
6.STM-2驗證模塊提(ti)供壹(yi)個(ge)標準的(de)電阻(zu),電容(rong)直接(jie)采取(qu)系(xi)統(tong)電容(rong),通過(guo)測(ce)試(shi)STM-2標準模塊可(ke)以(yi)驗證是否正(zheng)常(chang);
7.位於(yu)法(fa)拉(la)第(di)籠內的(de)靜(jing)電壓探測(ce)頭可(ke)以(yi)卸下,放(fang)置在806B無損電極上後,可(ke)以(yi)直接(jie)測(ce)試(shi)粉(fen)體(ti)、液(ye)體(ti)和(he)固(gu)體(ti)試(shi)樣;
8.顯(xian)示:指針(zhen)式充電電壓表(右(you))、指針(zhen)式試(shi)樣電壓表(左(zuo))、數顯計時器(中),彩色LED燈(deng)指示(shi)各(ge)個(ge)操作(zuo)進(jin)程(cheng)。
1.406D測(ce)試(shi)主機(ji);
2.法(fa)拉(la)第(di)測(ce)試(shi)籠;
3.磁(ci)性(xing)固(gu)定電極;
4.條形(xing)夾具(ju);
5.STM-2驗證模塊;
6.選(xuan)配(pei):806B無損測(ce)試(shi)電極。
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五(wu)爪扣(kou)拉(la)力(li)測(ce)試(shi)儀_紐扣強力(li)試(shi)驗機(ji)
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