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配(pei)置的磁吸棒(bang)用於(yu)薄(bo)膜(mo)和(he)布匹(pi)材(cai)料的測試(shi);金屬夾(jia)具可(ke)以(yi)測試(shi)較厚(hou)的塊(kuai)狀物(wu)、發(fa)泡(pao)物(wu)或其他(ta)形(xing)狀和(he)質地(di)的材(cai)料。選配(pei)IC管型(xing)夾(jia)具可(ke)以(yi)無(wu)損測試(shi)IC芯(xin)片包裝管(guan);選配(pei)無(wu)損測試(shi)電(dian)極(ji)可以(yi)直接放置在試樣上,還(hai)可以(yi)測試(shi)粉(fen)體和(he)液(ye)體(ti)靜電(dian)衰(shuai)減時間(jian)。
面(mian)料防(fang)靜電(dian)檢(jian)測儀(yi)器(qi)/靜電(dian)衰(shuai)減測試(shi)儀(yi)可用於(yu)實(shi)驗室(shi)以分(fen)析材(cai)料自(zi)身的靜電(dian)特(te)性、評估抗靜電(dian)添加(jia)劑(ji)的功(gong)效、發(fa)展(zhan)新(xin)型靜電(dian)防(fang)護材(cai)料。同時該(gai)設(she)備也(ye)可用於(yu)在(zai)生產(chan)制造(zao)領(ling)域(yu)作為(wei)產(chan)品質量(liang)控制設(she)備,依(yi)據各(ge)種(zhong)標準規範來(lai)進(jin)行靜電(dian)特(te)性檢(jian)測和(he)監測。
MIL-PRF-81705D美軍標
IST40.2(01) 美國(guo)無(wu)紡布靜電(dian)衰(shuai)減測試(shi)標準
FED-STD-101C(Method 4046) 美(mei)國聯(lian)邦標準
MIL-B-81705C 美(mei)標
GB19082 中國(guo)
GJB2625 中標
充(chong)電(dian)電(dian)壓:0-5.5KV
誤差(cha)期設(she)置:50% 10% 1% (0)
電(dian)壓表量(liang)程:0-5KV
計(ji)時(shi)器(qi)量(liang)程:1-99.99s
計(ji)時(shi)分(fen)辨率:0.01s
顯示:指針(zhen)式(shi)充(chong)電(dian)電(dian)壓表(右)、指針(zhen)式(shi)試(shi)樣電(dian)壓表(左(zuo))、數顯計時(shi)器(qi)(中),彩色(se)LED燈(deng)指示(shi)各(ge)個(ge)操作進(jin)程(cheng);
測試(shi)模式(shi):手動、自(zi)動(只能(neng)測試(shi)從(cong)5kV開(kai)始(shi)的衰減)
自(zi)動測試(shi)次數:1-9次
測試(shi)時(shi)間(jian)間(jian)隔(ge):1-25s
輸入電(dian)源(yuan):86-264VAC,50/60Hz
測試(shi)主機
法拉第測試(shi)籠
磁(ci)性固(gu)定(ding)電(dian)極(ji)
條形(xing)夾(jia)具
STM-2驗(yan)證(zheng)模塊(kuai)
021-64208466
掃(sao)描微(wei)信(xin)號(hao)