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產(chan)品(pin)簡介
產(chan)品(pin)分(fen)類(lei)
紡(fang)織(zhi)及服裝(zhuang)測(ce)試儀
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《GB2423.1-89電工(gong)電子產(chan)品(pin)基本環境(jing)試驗規(gui)程(cheng)》:低溫試驗方(fang)法;
《GB2423.2-89電工(gong)電子產(chan)品(pin)基本環境(jing)試驗規(gui)程(cheng)》:高溫試驗方(fang)法;
《GB/T2423.4-93電工(gong)電子產(chan)品(pin)基本環境(jing)試驗規(gui)程(cheng)》:交(jiao)變(bian)濕熱(re)試驗方(fang)法;
《GB/T2423.3-93電工(gong)電子產(chan)品(pin)基本環境(jing)試驗規(gui)程(cheng)》:恒(heng)定濕熱(re)試驗方(fang)法。
高低溫沖(chong)擊(ji)試驗箱(xiang)/冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)測(ce)試機用(yong)於測(ce)試材料或(huo)復合材料在瞬(shun)間(jian)下經(jing)高溫或(huo)低溫連續環境(jing)下的忍受程(cheng)度(du),得(de)以(yi)在Z短(duan)時間(jian)內檢測(ce)試樣因(yin)熱脹(zhang)冷(leng)縮(suo)所引(yin)起(qi)的化學變(bian)化或(huo)物理傷害。
根據(ju)試驗需(xu)求(qiu)及測(ce)試標準(zhun)分(fen)為三箱式和兩箱(xiang)式,區別在於(yu)試驗方(fang)式和(he)內(nei)部結(jie)構不(bu)同。三箱式分(fen)為蓄(xu)冷(leng)室(shi),蓄(xu)熱(re)室(shi)和(he)試驗室(shi),產(chan)品(pin)在測(ce)試時是(shi)放(fang)置在(zai)試驗室(shi)。兩箱(xiang)式分(fen)為高溫室(shi)和(he)低溫室(shi),是(shi)通過(guo)電機帶(dai)動(dong)提籃運(yun)動(dong)來實現高低溫的切換,產(chan)品(pin)放在提籃裏(li),是(shi)隨(sui)提籃壹(yi)起(qi)移(yi)動(dong)的。
用(yong)於電子電器(qi)零(ling)組件(jian)、自動(dong)化(hua)零(ling)部件、通訊(xun)組(zu)件、汽(qi)車(che)配(pei)件、金(jin)屬、化學材料、塑膠等(deng)行(xing)業,國防工(gong)業、航(hang)天、兵(bing)工(gong)業、BGA、PCB基扳、電子芯(xin)片IC、半導(dao)體(ti)陶(tao)磁、光(guang)纖、LED、晶體(ti)、電感、PCB、電池、電腦、手(shou)機及高分(fen)子材(cai)料之物理牲變(bian)化,測(ce)試其(qi)材料對高、低溫的反復抵(di)拉(la)力(li)及產(chan)品(pin)於熱脹(zhang)冷(leng)縮(suo)產(chan)出的化學變(bian)化或(huo)物理傷害,可確認(ren)產(chan)品(pin)的品質,從精密的IC到重(zhong)機械的組件,都(dou)會用(yong)到,是各(ge)領域(yu)對產(chan)品(pin)測(ce)試的*的壹(yi)項測(ce)試箱,用(yong)於耐(nai)高溫、耐低溫、耐濕熱(re)循環檢測(ce)試驗。
1、溫度(du)範(fan)圍:-65℃~150℃:高溫箱:+60℃~150℃;低溫箱:0℃~-65℃;
2、溫度(du)波(bo)動(dong)度(du):±2℃;
3、溫度(du)誤(wu)差(cha):±2℃;
4、升溫速率(lv):從常(chang)溫~150℃≤50min;
5、降溫速率(lv):從常(chang)溫~-65℃≤60min;
6、制冷(leng)下限(xian)溫度(du):≤-65℃;
7、沖(chong)擊(ji)溫度(du):+150~-65℃;
8、工(gong)作室(shi)尺(chi)寸:500×400×400mm(寬(kuan)×高×深);
9、外(wai)形尺(chi)寸:約(yue)1900×2100×2000mm(寬(kuan)×高×深);
10、電源(yuan):380V±38V;50Hz±1Hz
11、功(gong)率(lv):約(yue)16.5Kw
12、溫度(du)恢(hui)復時間(jian):≤5min;
13、樣品(pin)架承(cheng)重(zhong):10Kg以(yi)內.
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