醫(yi)用(yong)手術(shu)服靜(jing)電(dian)衰減(jian)測試儀(yi)技(ji)術(shu)指標

　　醫(yi)用(yong)手術(shu)服靜(jing)電(dian)衰減(jian)測試儀(yi)主(zhu)要(yao)是(shi)用(yong)於實驗室以(yi)分(fen)析(xi)材料(liao)自(zi)身的靜(jing)電(dian)特(te)性(xing)、評(ping)估(gu)抗靜(jing)電(dian)添(tian)加劑(ji)的功效、發(fa)展新(xin)型(xing)靜(jing)電(dian)防(fang)護(hu)材(cai)料(liao)。同(tong)時該(gai)設備也可(ke)用(yong)於在(zai)生(sheng)產(chan)制(zhi)造(zao)領域(yu)作(zuo)為(wei)產(chan)品(pin)質(zhi)量控(kong)制設備，依據(ju)各(ge)種(zhong)標準(zhun)規(gui)範來(lai)進行(xing)靜(jing)電(dian)特(te)性(xing)檢測和(he)監(jian)測(ce)。

　　符(fu)合標準(zhun)：

　　美(mei)國無(wu)紡(fang)布(bu)靜(jing)電(dian)衰減(jian)測試標準(zhun)IST 40.2(01)

　　美(mei)國聯邦(bang)標準(zhun)FED-STD-101C(Method 4046)

　　美(mei)G軍標MIL-B-81705C

　　美軍標MIL-PRF-81705D

　　中國GB 19082

　　中(zhong)G軍(jun)標GJB2625

　　主要(yao)參(can)數：

　　環(huan)境(jing)溫度(du)測試範圍：0~40度(du)

　　環(huan)境(jing)濕(shi)度(du)測試範圍：20~35%RH,不結露(lu)

　　高(gao)壓(ya)電(dian)源(yuan)：H.V(光暈放(fang)電(dian)電(dian)壓(ya))0~10kVCAL(校準(zhun)電(dian)壓(ya))0~4kV

　　輸出信(xin)號：分析(xi)儀(yi)端口(kou)（分析(xi)儀(yi)）、SYNC端口(kou)（示波器）電(dian)壓(ya)0~±10V精(jing)度(du)約10%

　　試驗臺旋轉(zhuan)速度(du)：每分(fen)鐘1000轉(zhuan)

　　電(dian)*度(du)調整：刻(ke)度(du)尺(chi)及(ji)高(gao)度(du)調整旋(xuan)鈕

　　電(dian)源(yuan)：AC 100V±10%,50Hz

　　技術(shu)指標：

　　1.406D配置的磁吸棒(bang)用(yong)於薄(bo)膜和(he)布匹(pi)材料(liao)的測試，金屬夾(jia)具可(ke)以(yi)測(ce)試較厚(hou)的塊狀物(wu)、發(fa)泡(pao)物(wu)或(huo)其(qi)他(ta)形(xing)狀和質(zhi)地(di)的材料(liao)；

　　2.選(xuan)配IC管型(xing)夾(jia)具可(ke)以(yi)無(wu)損(sun)測(ce)試IC芯片包(bao)裝(zhuang)管；

　　3.選(xuan)配806B無(wu)損(sun)測(ce)試電(dian)極(ji)可以直(zhi)接(jie)放(fang)置(zhi)在(zai)試樣(yang)上(shang)，還(hai)可(ke)以測試粉(fen)體和(he)液(ye)體靜(jing)電(dian)衰減(jian)時間(jian)；

　　4.配套法(fa)拉(la)第(di)測(ce)試籠(long)提(ti)供壹個屏(ping)蔽空間，試樣(yang)放(fang)置在(zai)法(fa)拉(la)第(di)籠(long)內進行(xing)測試，法(fa)拉(la)第(di)籠(long)通過(guo)配套連(lian)接線(xian)連(lian)接406D主機；

　　5.法(fa)拉(la)第(di)籠(long)具(ju)有互鎖裝(zhuang)置，打(da)開(kai)法(fa)拉(la)第(di)籠(long)時，高(gao)壓(ya)電(dian)源(yuan)輸出被(bei)切斷；

　　6.STM-2驗證模(mo)塊(kuai)提(ti)供(gong)壹個標準(zhun)的電(dian)阻，電(dian)容(rong)直(zhi)接(jie)采(cai)取系(xi)統(tong)電(dian)容(rong)，通過(guo)測(ce)試STM-2標準(zhun)模(mo)塊(kuai)可(ke)以(yi)驗證是(shi)否(fou)正(zheng)常；

　　7.位(wei)於法(fa)拉(la)第(di)籠(long)內的靜(jing)電(dian)壓(ya)探測頭(tou)可以(yi)卸(xie)下(xia)，放(fang)置(zhi)在(zai)806B無(wu)損(sun)電(dian)極(ji)上(shang)後(hou)，可(ke)以直(zhi)接(jie)測(ce)試粉(fen)體、液(ye)體和(he)固體(ti)試樣(yang)；

　　8.顯示：指針(zhen)式(shi)充(chong)電(dian)電(dian)壓(ya)表(biao)(右)、指針(zhen)式(shi)試樣(yang)電(dian)壓(ya)表(biao)(左)、數顯計時器(中)，彩色LED燈(deng)指示(shi)各(ge)個操(cao)作(zuo)進程(cheng)。