防(fang)護(hu)材(cai)料靜電衰減測(ce)試(shi)儀(yi)技術(shu)特點

防(fang)護(hu)材(cai)料靜電衰減測(ce)試(shi)儀(yi)采(cai)用直流充電(dian)法測試(shi)材(cai)料的靜電衰減特征，以(yi)評估(gu)其靜電特性。用於(yu)測(ce)試(shi)紡織(zhi)服(fu)裝、醫用織(zhi)物材(cai)料、非(fei)織造布、復合(he)材(cai)料、薄(bo)膜(mo)材(cai)料等(deng)試(shi)樣(yang)在(zai)施(shi)加(jia)±5000V電壓(ya)後，測定(ding)試(shi)樣(yang)由(you)峰(feng)值電壓(ya)衰減到(dao)10%的靜電衰減的時間(jian)。

應用(yong)範(fan)圍：

1.用(yong)於(yu)實(shi)驗(yan)室(shi)分析(xi)材(cai)料自(zi)身的靜電特性、評估抗(kang)靜電添加(jia)劑(ji)的功效(xiao)、發展新(xin)型(xing)靜電防(fang)護(hu)材(cai)料；

2.用(yong)於(yu)在(zai)生產(chan)制(zhi)造領(ling)域(yu)作(zuo)為(wei)產(chan)品(pin)質量(liang)控制(zhi)設(she)備(bei)，依(yi)據各(ge)種標(biao)準規(gui)範來(lai)進行(xing)靜電特性檢(jian)測和(he)監測。

符合(he)標(biao)準：

美(mei)國(guo)無紡布靜電衰減測(ce)試(shi)標(biao)準IST 40.2(01)，美(mei)國(guo)聯邦標(biao)準FED-STD-101C(Method 4046)，美(mei)G軍標(biao)MIL-B-81705C，美(mei)軍標(biao)MIL-PRF-81705D，中(zhong)國(guo)GB 19082，中(zhong)G軍標(biao)GJB2625

技術(shu)指(zhi)標(biao)：

1、醫(yi)用(yong)織物靜電衰減性能(neng)測試(shi)儀(yi)整(zheng)個儀(yi)器(qi)采(cai)用(yong)四(si)部分模塊(kuai)設(she)計(ji)：

1）±5000V電壓(ya)控制(zhi)模塊(kuai)

2）高(gao)壓(ya)放電模塊(kuai)；

3）衰(shuai)減電(dian)壓(ya)隨機測試(shi)模塊(kuai)；

4）靜電衰減時(shi)間(jian)測試(shi)模塊(kuai)；

2、靜電高(gao)壓(ya)源(yuan)：±5500V；測(ce)試(shi)靜電電壓(ya)：0～±5kV

3、靜電衰減量(liang)選擇(ze)範(fan)圍：0～100%（0～90%）

4、放(fang)電時間(jian)範(fan)圍：0 ～ 99.99 s/m/h，精(jing)度：±0.01s

5、衰(shuai)減時(shi)間(jian)測試(shi)範圍:0 ～99.99s/m/h，精(jing)度：±0.01s

6、試(shi)樣(yang)尺(chi)寸：89mm×（152±6）mm

7、設(she)備(bei)功能(neng)：實(shi)時顯示試(shi)樣(yang)表(biao)面(mian)衰(shuai)減電(dian)壓(ya)—時間曲線(xian)、衰(shuai)減倍(bei)率(lv)可(ke)設(she)定(ding)。並(bing)生成試(shi)驗(yan)報告(gao)

8、試(shi)驗(yan)箱(xiang)：由(you)有(you)機玻璃(li)組(zu)成的密(mi)封箱(xiang)體(ti)。更換試(shi)樣(yang)可(ke)透(tou)明操作(zuo)。

9、工作(zuo)電(dian)源(yuan)：AC220v；50Hz。

技術(shu)特點：

1.406D配(pei)置的磁吸棒用(yong)於(yu)薄(bo)膜(mo)和(he)布匹材(cai)料的測試(shi)，金屬(shu)夾具可(ke)以(yi)測試(shi)較(jiao)厚的塊(kuai)狀(zhuang)物、發泡物或其他(ta)形狀(zhuang)和(he)質地(di)的材(cai)料；2.選(xuan)配IC管型(xing)夾具可(ke)以(yi)無損測(ce)試(shi)IC芯(xin)片(pian)包(bao)裝(zhuang)管；

3.選(xuan)配(pei)806B無(wu)損測(ce)試(shi)電極(ji)可(ke)以(yi)直接放(fang)置在(zai)試(shi)樣(yang)上(shang)，還(hai)可(ke)以(yi)測試(shi)粉體(ti)和(he)液(ye)體(ti)靜電衰減時(shi)間(jian)；

4.配套(tao)法拉第測試(shi)籠提供壹個(ge)屏蔽(bi)空間，試(shi)樣(yang)放(fang)置在(zai)法拉第籠內進(jin)行(xing)測試(shi)，法拉第籠通過配(pei)套(tao)連接線(xian)連(lian)接406D主機；

5.法拉第籠具有(you)互鎖裝(zhuang)置，打(da)開法拉第籠時，高(gao)壓(ya)電源(yuan)輸(shu)出被切(qie)斷(duan)；

6.STM-2驗(yan)證(zheng)模塊(kuai)提供壹個(ge)標(biao)準的電阻(zu)，電(dian)容(rong)直接采(cai)取系(xi)統電(dian)容(rong)，通過測(ce)試(shi)STM-2標(biao)準模塊(kuai)可(ke)以(yi)驗(yan)證(zheng)是否正(zheng)常(chang)；

7.位於(yu)法拉第籠內的靜電壓(ya)探測頭(tou)可(ke)以(yi)卸下，放(fang)置在(zai)806B無(wu)損電(dian)極(ji)上後(hou)，可(ke)以(yi)直接測(ce)試(shi)粉體(ti)、液(ye)體(ti)和(he)固體試(shi)樣(yang)；

8.顯示：指(zhi)針式(shi)充電(dian)電(dian)壓(ya)表(biao)(右)、指(zhi)針式(shi)試(shi)樣(yang)電(dian)壓(ya)表(biao)(左(zuo))、數顯計時器(qi)(中(zhong))，彩(cai)色(se)LED燈指(zhi)示各(ge)個操(cao)作進(jin)程(cheng)。