防護材料靜電(dian)衰減測試(shi)儀技術(shu)參數有哪(na)些(xie)

防護材料靜電(dian)衰減測試(shi)儀在實(shi)驗室(shi)條件下(xia)，適(shi)用(yong)於測定(ding)纖(xian)維(wei)、紗(sha)線(xian)、織(zhi)物(wu)、地(di)毯(tan)、裝(zhuang)飾(shi)織(zhi)物和(he)其(qi)它各品(pin)種(zhong)織(zhi)物(wu)或(huo)各(ge)種板(ban)狀制(zhi)成(cheng)品的靜(jing)電(dian)性能。儀器主(zhu)機(ji)由(you)電(dian)暈放(fang)電(dian)裝(zhuang)置和(he)探(tan)頭檢測器(qi)組(zu)成。利用(yong)給(gei)定(ding)的高(gao)壓(ya)電(dian)場，對(dui)織(zhi)物(wu)定(ding)時間放(fang)電(dian)，使織物感(gan)應(ying)靜電(dian)，從而進行(xing)靜(jing)電(dian)電(dian)量大小、靜電(dian)壓衰減的半(ban)衰(shuai)期、靜(jing)電(dian)殘留量的檢測，以(yi)顯(xian)示被(bei)測(ce)織(zhi)物的帶(dai)靜(jing)電(dian)性能。

符(fu)合標準(zhun)：

美國無(wu)紡(fang)布(bu)靜電(dian)衰減測試(shi)標準(zhun)IST 40.2(01)，美國聯(lian)邦(bang)標準(zhun)FED-STD-101C(Method 4046)，MIL-B-81705C，MIL-PRF-81705D，GB 19082，GJB2625

應(ying)用(yong)範圍(wei)：

1.用(yong)於實驗(yan)室(shi)分析材料自身(shen)的靜(jing)電(dian)特性、評估(gu)抗(kang)靜電(dian)添(tian)加劑(ji)的功(gong)效、發展(zhan)新型靜(jing)電(dian)防護材料；

2.用(yong)於在生(sheng)產(chan)制(zhi)造領域(yu)作(zuo)為(wei)產品(pin)質量控制(zhi)設(she)備，依(yi)據(ju)各種(zhong)標準(zhun)規範(fan)來(lai)進行(xing)靜(jing)電(dian)特性檢測和(he)監(jian)測(ce)。

技(ji)術(shu)特點：

1.406D配置的磁(ci)吸棒用(yong)於薄(bo)膜(mo)和(he)布(bu)匹(pi)材(cai)料的測(ce)試(shi)，金(jin)屬(shu)夾具可(ke)以(yi)測(ce)試(shi)較厚(hou)的塊(kuai)狀物、發(fa)泡物(wu)或(huo)其(qi)他(ta)形(xing)狀和(he)質地(di)的材(cai)料；2.選配IC管型(xing)夾具可(ke)以(yi)無(wu)損(sun)測(ce)試(shi)IC芯(xin)片包(bao)裝(zhuang)管(guan)；

3.選(xuan)配806B無損(sun)測(ce)試(shi)電(dian)極可(ke)以(yi)直接(jie)放(fang)置在試樣上(shang)，還可(ke)以(yi)測(ce)試(shi)粉體(ti)和(he)液(ye)體靜(jing)電(dian)衰減時間；

4.配套法拉(la)第(di)測試(shi)籠(long)提供(gong)壹個(ge)屏(ping)蔽空間，試樣(yang)放(fang)置在法拉(la)第(di)籠(long)內(nei)進行(xing)測(ce)試(shi)，法拉(la)第(di)籠(long)通(tong)過配套連接線(xian)連接406D主(zhu)機(ji)；

5.法拉(la)第(di)籠(long)具有互(hu)鎖(suo)裝(zhuang)置，打開(kai)法拉(la)第(di)籠(long)時，高壓(ya)電(dian)源輸(shu)出(chu)被(bei)切斷(duan)；

6.STM-2驗(yan)證模塊提供(gong)壹個(ge)標準(zhun)的電(dian)阻，電(dian)容(rong)直接(jie)采(cai)取系統電(dian)容(rong)，通(tong)過測(ce)試(shi)STM-2標準(zhun)模塊(kuai)可(ke)以(yi)驗(yan)證是否正(zheng)常；

7.位於法拉(la)第(di)籠(long)內(nei)的靜(jing)電(dian)壓探測頭可(ke)以(yi)卸(xie)下(xia)，放(fang)置在806B無損(sun)電(dian)極上(shang)後(hou)，可(ke)以(yi)直接(jie)測(ce)試粉(fen)體、液(ye)體和(he)固(gu)體(ti)試(shi)樣(yang)；

8.顯(xian)示：指針式充(chong)電(dian)電(dian)壓表(右(you))、指針式試(shi)樣(yang)電(dian)壓表(左)、數(shu)顯(xian)計(ji)時器(中)，彩(cai)色LED燈指示(shi)各(ge)個操作(zuo)進(jin)程(cheng)。

技(ji)術參數：

1.充(chong)電(dian)電(dian)壓：0～5.5kV；

2.誤差期設(she)置：50%、10%、1%(0)；

3.電(dian)壓表量程(cheng)：0-5kV；

4.計(ji)時器量程(cheng)：1-99.99s；

5.計(ji)時分辨(bian)率：0.01s；

6.測(ce)試(shi)模式：手(shou)動、自動(只(zhi)能(neng)測試(shi)從5kV開(kai)始的衰(shuai)減(jian))；

7.自動測(ce)試(shi)次(ci)數(shu)：1-9次(ci)；

8.測(ce)試時間間隔：1-25秒(miao)；

9.輸(shu)入(ru)電(dian)源：86-264VAC，50/60Hz。