醫(yi)用服(fu)靜電(dian)衰減測(ce)試(shi)儀(yi)符(fu)合哪些標準

在實(shi)驗室(shi)條件(jian)下(xia)，適(shi)用於(yu)測(ce)定纖(xian)維(wei)、紗(sha)線、織物(wu)、地毯(tan)、裝(zhuang)飾織物(wu)和(he)其它各(ge)品(pin)種織物(wu)或各種板狀制成品(pin)的(de)靜電(dian)性(xing)能。儀(yi)器(qi)主機由電(dian)暈放(fang)電(dian)裝(zhuang)置(zhi)和(he)探(tan)頭檢(jian)測(ce)器(qi)組成(cheng)。利(li)用給(gei)定的(de)高壓(ya)電(dian)場(chang)，對織物(wu)定時(shi)間(jian)放(fang)電(dian)，使織物(wu)感應靜電(dian)，從(cong)而(er)進行靜電(dian)電(dian)量大(da)小(xiao)、靜電(dian)壓(ya)衰減的(de)半衰期、靜電(dian)殘(can)留(liu)量的(de)檢(jian)測(ce)，以(yi)顯(xian)示被(bei)測(ce)織物(wu)的帶(dai)靜電(dian)性(xing)能。

應用(yong)範(fan)圍(wei)：

1.用(yong)於(yu)實(shi)驗室(shi)分析(xi)材(cai)料自(zi)身的靜電(dian)特(te)性(xing)、評(ping)估抗(kang)靜電(dian)添(tian)加(jia)劑(ji)的(de)功效(xiao)、發(fa)展新(xin)型(xing)靜電(dian)防(fang)護(hu)材(cai)料；

2.用(yong)於(yu)在生(sheng)產制造領(ling)域作(zuo)為(wei)產(chan)品(pin)質量控制設備(bei)，依(yi)據各種標準規(gui)範(fan)來(lai)進行靜電(dian)特(te)性(xing)檢(jian)測(ce)和(he)監(jian)測(ce)。

技(ji)術(shu)特(te)點(dian)：

1.406D配置的磁吸(xi)棒用於(yu)薄膜(mo)和(he)布(bu)匹(pi)材(cai)料的(de)測(ce)試(shi)，金(jin)屬(shu)夾(jia)具可(ke)以(yi)測(ce)試(shi)較(jiao)厚(hou)的(de)塊狀物(wu)、發(fa)泡物(wu)或其他形(xing)狀和(he)質地的(de)材(cai)料；2.選(xuan)配IC管型夾(jia)具可(ke)以(yi)無損(sun)測(ce)試(shi)IC芯(xin)片(pian)包(bao)裝管；

3.選配806B無損(sun)測(ce)試(shi)電(dian)極(ji)可(ke)以(yi)直接(jie)放(fang)置(zhi)在試(shi)樣(yang)上(shang)，還可(ke)以(yi)測(ce)試(shi)粉(fen)體(ti)和(he)液(ye)體靜電(dian)衰減時(shi)間(jian)；

4.配套(tao)法拉(la)第測(ce)試(shi)籠(long)提供壹(yi)個屏(ping)蔽(bi)空(kong)間(jian)，試(shi)樣(yang)放(fang)置(zhi)在法(fa)拉第籠(long)內進行測(ce)試(shi)，法(fa)拉(la)第(di)籠(long)通(tong)過配套(tao)連接(jie)線(xian)連接(jie)406D主(zhu)機；

5.法(fa)拉第(di)籠(long)具有互(hu)鎖(suo)裝(zhuang)置，打開(kai)法拉第籠(long)時(shi)，高壓(ya)電(dian)源(yuan)輸(shu)出(chu)被(bei)切斷(duan)；

6.STM-2驗證模塊提供壹(yi)個標準的電(dian)阻，電(dian)容(rong)直(zhi)接(jie)采取系(xi)統(tong)電(dian)容(rong)，通(tong)過測(ce)試(shi)STM-2標準模塊可以(yi)驗證是否(fou)正常(chang)；

7.位(wei)於(yu)法拉(la)第籠(long)內的(de)靜電(dian)壓(ya)探(tan)測(ce)頭(tou)可(ke)以(yi)卸下(xia)，放(fang)置(zhi)在806B無(wu)損(sun)電(dian)極(ji)上(shang)後，可以(yi)直接(jie)測(ce)試(shi)粉(fen)體(ti)、液(ye)體和(he)固(gu)體試樣(yang)；

8.顯(xian)示：指(zhi)針(zhen)式充電(dian)電(dian)壓(ya)表(右)、指(zhi)針(zhen)式試樣(yang)電(dian)壓(ya)表(左(zuo))、數顯(xian)計(ji)時(shi)器(qi)(中)，彩(cai)色(se)LED燈指(zhi)示各(ge)個操作(zuo)進程。

技術參數：

1.充電(dian)電(dian)壓(ya)：0～5.5kV；

2.誤(wu)差(cha)期(qi)設(she)置(zhi)：50%、10%、1%(0)；

3.電(dian)壓(ya)表量程：0-5kV；

4.計(ji)時(shi)器(qi)量程：1-99.99s；

5.計(ji)時(shi)分(fen)辨率(lv)：0.01s；

6.測(ce)試(shi)模(mo)式(shi)：手(shou)動、自動(只(zhi)能測(ce)試(shi)從(cong)5kV開(kai)始的衰減)；

7.自(zi)動(dong)測(ce)試(shi)次數：1-9次；

8.測(ce)試(shi)時(shi)間(jian)間(jian)隔(ge)：1-25秒(miao)；

9.輸(shu)入(ru)電(dian)源(yuan)：86-264VAC，50/60Hz。

符(fu)合標準：

美(mei)國無(wu)紡布(bu)靜電(dian)衰減測(ce)試(shi)標準IST 40.2(01)，美(mei)國聯邦(bang)標準FED-STD-101C(Method 4046)，MIL-B-81705C，MIL-PRF-81705D，GB 19082，GJB2625