直(zhi)流充(chong)電法靜電衰減測試儀(yi)符合(he)哪(na)些標準(zhun)

直(zhi)流充(chong)電法靜電衰減測試儀(yi)中(zhong)的(de)測定器是測試各種素(su)材的靜電擴散(san)性的(de)靜電衰減測試儀(yi)器(qi)，試樣由(you)於受到(dao)光暈(yun)放(fang)電產生的空(kong)氣(qi)離(li)子(zi)照(zhao)射(she)而帶(dai)電，空氣離子(zi)照(zhao)射(she)停止後，通過(guo)測定(ding)器(qi)測出電荷的(de)衰(shuai)減曲線(xian)，然後由(you)分(fen)析(xi)儀(yi)自(zi)動(dong)計(ji)算(suan)出電壓(ya)衰減(jian)的半(ban)衰(shuai)期。適用於測量(liang)膠(jiao)卷、薄板(ban)、絲線(xian)、布(bu)料、地毯(tan)、玻(bo)璃等(deng)所(suo)有薄(bo)片狀(zhuang)試樣。

直(zhi)流充(chong)電法靜電衰減測試儀(yi)是壹臺(tai)解析(xi)運算(suan)器，通過(guo)靜電測試儀(yi)獲(huo)取靜電衰減曲線(xian)，自(zi)動(dong)計(ji)算(suan)出電壓(ya)衰減(jian)的半(ban)衰(shuai)期，采用單鍵式(shi)操作(zuo)，自動(dong)測(ce)量(liang)素(su)材的靜電衰減性。連接(jie)個(ge)人電腦後可(ke)以實現(xian)如(ru)下(xia)功(gong)能(neng)：

1．衰(shuai)減率(lv)的(de)設(she)定：衰(shuai)減(jian)範圍可(ke)在2～100%範圍內自由(you)設(she)定，半(ban)衰(shuai)期設(she)定通常(chang)是50%。

2．測試數(shu)據(ju)的保(bao)存(cun)：可(ke)將(jiang)測(ce)試數(shu)據(ju)作(zuo)為(wei)CSV文(wen)件保(bao)存(cun)至(zhi)電腦的HDD系統(tong)。便(bian)於日(ri)後查(zha)詢數(shu)據(ju)保(bao)存(cun)。

3．測(ce)試環境數(shu)據(ju)的保(bao)存(cun)：可(ke)自(zi)動(dong)測定溫濕(shi)度(du)數(shu)據(ju)，並自動(dong)保(bao)存(cun)至(zhi)相(xiang)應文件夾。

4．衰(shuai)減曲線(xian)的(de)表(biao)示：電壓(ya)坐(zuo)標和(he)時間坐(zuo)標可(ke)以同時放大或(huo)縮(suo)小(xiao)。測量後可(ke)以根據(ju)實際情況(kuang)自(zi)由變更(geng)。便(bian)於對不熟悉(xi)特(te)性的(de)試樣的(de)觀察。

5．試樣測(ce)定(ding)方(fang)法(fa)：根據(ju)不同需求可(ke)對試樣進行(xing)自(zi)動測(ce)試，手動(dong)測(ce)試，規定(ding)程(cheng)序測試。

6．校正(zheng)功能(neng)：可(ke)根(gen)據(ju)自身程序進行(xing)電壓(ya)校正(zheng)。保(bao)證(zheng)測(ce)試數(shu)據(ju)的穩(wen)定(ding)性。

主(zhu)要(yao)用途(tu)：

采(cai)用直(zhi)流充(chong)電法測試材料的靜電衰減特(te)征(zheng)，以評估(gu)其(qi)靜電特(te)性。

應用範圍：

1.用於實驗(yan)室(shi)分(fen)析(xi)材料自身的靜電特(te)性、評(ping)估(gu)抗(kang)靜電添加劑的功效、發(fa)展新型靜電防(fang)護(hu)材料；

2.用於在生產制造領域作(zuo)為(wei)產(chan)品(pin)質量(liang)控(kong)制設(she)備，依(yi)據(ju)各種標準(zhun)規範來進行(xing)靜電特(te)性檢(jian)測和(he)監測(ce)。

主(zhu)要(yao)參(can)數(shu)：

環(huan)境溫(wen)度(du)測試範圍：0~40度

環境濕(shi)度(du)測試範圍：20~35%RH,不結露(lu)

高壓(ya)電源(yuan)：H.V(光暈(yun)放(fang)電電壓(ya))0~10kVCAL(校準(zhun)電壓(ya))0~4kV

輸出信(xin)號(hao)：分(fen)析(xi)儀(yi)端口(kou)（分(fen)析(xi)儀(yi)）、SYNC端口(kou)（示波(bo)器(qi)）電壓(ya)0~±10V精度(du)約(yue)10%

試驗臺(tai)旋(xuan)轉(zhuan)速度：每(mei)分(fen)鐘(zhong)1000轉(zhuan)

電*度調整(zheng)：刻(ke)度(du)尺及(ji)高度(du)調(tiao)整(zheng)旋(xuan)鈕

電源(yuan)：AC 100V±10%,50Hz

附(fu)屬(shu)品(pin)：

電源(yuan)線(xian)：1根(gen)

信(xin)號(hao)線(xian)：1根(gen)

校(xiao)準(zhun)工具(ju)&平(ping)衡器(qi)：1式(shi)

六角扳手(shou)：1根(gen)

保(bao)險絲2A：1個

技(ji)術特(te)點(dian)：

1.406D配(pei)置的(de)磁(ci)吸棒(bang)用於薄膜和(he)布匹(pi)材料的測試，金(jin)屬(shu)夾(jia)具(ju)可(ke)以測試較厚(hou)的(de)塊(kuai)狀(zhuang)物(wu)、發(fa)泡(pao)物(wu)或(huo)其(qi)他形(xing)狀(zhuang)和(he)質地的材料；2.選配(pei)IC管(guan)型夾具(ju)可(ke)以無損測試IC芯(xin)片包(bao)裝管(guan)；

3.選配(pei)806B無損測試電極可(ke)以直(zhi)接(jie)放(fang)置(zhi)在試樣上(shang)，還可(ke)以測試粉(fen)體和(he)液體靜電衰減時間；

4.配(pei)套法(fa)拉第(di)測試籠提供(gong)壹個(ge)屏蔽空(kong)間(jian)，試樣放(fang)置(zhi)在法拉第(di)籠內進行(xing)測(ce)試，法拉第(di)籠通過(guo)配(pei)套連接(jie)線(xian)連接(jie)406D主(zhu)機；

5.法拉第(di)籠具(ju)有互(hu)鎖裝置，打開(kai)法(fa)拉第(di)籠時，高壓(ya)電源(yuan)輸出被(bei)切斷(duan)；

6.STM-2驗證模(mo)塊(kuai)提供(gong)壹個(ge)標準(zhun)的電阻，電容(rong)直(zhi)接(jie)采(cai)取系(xi)統(tong)電容(rong)，通過(guo)測試STM-2標準(zhun)模塊(kuai)可(ke)以驗證(zheng)是否正(zheng)常；

7.位(wei)於法拉第(di)籠內的靜電壓(ya)探測(ce)頭可(ke)以卸(xie)下(xia)，放(fang)置(zhi)在806B無損電極上後，可(ke)以直(zhi)接(jie)測(ce)試粉(fen)體、液體和(he)固體試樣；

8.顯(xian)示：指(zhi)針(zhen)式(shi)充(chong)電電壓(ya)表(biao)(右(you))、指(zhi)針(zhen)式(shi)試樣電壓(ya)表(biao)(左)、數(shu)顯(xian)計(ji)時器(中)，彩色LED燈(deng)指(zhi)示各個操(cao)作(zuo)進程(cheng)。

符合(he)標準(zhun)：

美國無紡布靜電衰減測試標準(zhun)IST 40.2(01)；

美國聯邦(bang)標準(zhun)FED-STD-101C(Method 4046)；

美國軍標MIL-B-81705C；

美軍標MIL-PRF-81705D；

中國(guo)GB 19082；

中(zhong)國軍標GJB2625。