直(zhi)流(liu)充電(dian)法(fa)靜(jing)電(dian)衰減測試(shi)儀(yi)技(ji)術特(te)點有(you)哪些(xie)

直流(liu)充電(dian)法(fa)靜(jing)電(dian)衰減測試(shi)儀(yi)在實驗(yan)室條(tiao)件下(xia)，適(shi)用(yong)於測定(ding)纖維(wei)、紗(sha)線、織物(wu)、地(di)毯(tan)、裝飾(shi)織物(wu)和其它(ta)各品(pin)種(zhong)織物(wu)或各(ge)種(zhong)板(ban)狀制成(cheng)品的靜電性(xing)能。儀(yi)器(qi)主機(ji)由(you)電(dian)暈(yun)放(fang)電(dian)裝(zhuang)置和探(tan)頭檢測器(qi)組(zu)成(cheng)。利用(yong)給(gei)定(ding)的高壓(ya)電(dian)場(chang)，對織物(wu)定(ding)時(shi)間放(fang)電(dian)，使(shi)織物(wu)感應(ying)靜電，從而進行靜電電(dian)量(liang)大(da)小(xiao)、靜電(dian)壓(ya)衰減的半(ban)衰期、靜(jing)電殘留(liu)量(liang)的檢測，以(yi)顯示(shi)被測織物(wu)的帶(dai)靜電性(xing)能。

應(ying)用(yong)範(fan)圍(wei)：

1.用(yong)於實驗(yan)室分(fen)析(xi)材(cai)料(liao)自(zi)身(shen)的靜電特性(xing)、評估抗靜(jing)電(dian)添加劑(ji)的功效(xiao)、發展新(xin)型靜電(dian)防(fang)護材(cai)料(liao)；

2.用(yong)於在生(sheng)產制(zhi)造領(ling)域作(zuo)為(wei)產品質(zhi)量(liang)控制設(she)備(bei)，依據各(ge)種(zhong)標(biao)準規範(fan)來(lai)進行靜電特(te)性(xing)檢測和監(jian)測。

符合(he)標(biao)準：

美(mei)國無紡(fang)布(bu)靜電衰減測試(shi)標(biao)準IST 40.2(01)，美(mei)國聯邦(bang)標準FED-STD-101C(Method 4046)，MIL-B-81705C，MIL-PRF-81705D，GB 19082，GJB2625

技(ji)術參(can)數：

1.充電(dian)電(dian)壓(ya)：0～5.5kV；

2.誤(wu)差(cha)期設(she)置：50%、10%、1%(0)；

3.電壓(ya)表(biao)量(liang)程(cheng)：0-5kV；

4.計時(shi)器量(liang)程(cheng)：1-99.99s；

5.計時(shi)分(fen)辨率(lv)：0.01s；

6.測試(shi)模(mo)式：手(shou)動、自(zi)動(只(zhi)能測試(shi)從5kV開始(shi)的衰減)；

7.自(zi)動測試(shi)次數：1-9次；

8.測試(shi)時(shi)間間隔(ge)：1-25秒；

9.輸(shu)入電(dian)源：86-264VAC，50/60Hz。

技(ji)術特(te)點：

1.406D配置的磁吸棒(bang)用(yong)於薄(bo)膜(mo)和布匹(pi)材(cai)料(liao)的測試(shi)，金(jin)屬夾具(ju)可以(yi)測試(shi)較(jiao)厚(hou)的塊狀物(wu)、發泡物(wu)或其(qi)他(ta)形狀(zhuang)和質地(di)的材(cai)料(liao)；2.選(xuan)配(pei)IC管(guan)型夾具(ju)可以(yi)無損測試(shi)IC芯(xin)片(pian)包裝管；

3.選(xuan)配(pei)806B無(wu)損測試(shi)電(dian)極可以(yi)直接(jie)放(fang)置在試(shi)樣(yang)上(shang)，還可以(yi)測試(shi)粉(fen)體和液(ye)體(ti)靜電衰減時(shi)間；

4.配套法(fa)拉(la)第測試(shi)籠(long)提供(gong)壹個屏(ping)蔽空間(jian)，試(shi)樣(yang)放(fang)置在法(fa)拉(la)第籠內(nei)進行測試(shi)，法(fa)拉(la)第籠通(tong)過配(pei)套連(lian)接(jie)線(xian)連接406D主機；

5.法(fa)拉(la)第籠具(ju)有(you)互(hu)鎖(suo)裝置，打(da)開法(fa)拉(la)第籠時(shi)，高壓(ya)電(dian)源輸(shu)出被切斷；

6.STM-2驗(yan)證(zheng)模(mo)塊提(ti)供(gong)壹個標(biao)準的電阻，電(dian)容(rong)直接(jie)采取系(xi)統(tong)電(dian)容(rong)，通(tong)過測試(shi)STM-2標(biao)準模(mo)塊可(ke)以(yi)驗(yan)證(zheng)是(shi)否正(zheng)常；

7.位(wei)於法(fa)拉(la)第籠內(nei)的靜電壓(ya)探(tan)測頭可(ke)以(yi)卸(xie)下，放(fang)置在806B無(wu)損電極(ji)上後(hou)，可(ke)以(yi)直接(jie)測試(shi)粉(fen)體、液(ye)體(ti)和固體試(shi)樣(yang)；

8.顯(xian)示：指針(zhen)式充(chong)電電(dian)壓(ya)表(biao)(右)、指針(zhen)式試(shi)樣(yang)電(dian)壓(ya)表(biao)(左)、數顯計(ji)時(shi)器(中(zhong))，彩(cai)色(se)LED燈指示各(ge)個操(cao)作(zuo)進程。