防(fang)護(hu)材(cai)料靜(jing)電衰減測(ce)試(shi)儀有哪些(xie)功能(neng)

防(fang)護(hu)材(cai)料靜(jing)電衰減測(ce)試(shi)儀采用(yong)直(zhi)流充電法測(ce)試(shi)材(cai)料的靜(jing)電衰減特征，以(yi)評估(gu)其(qi)靜(jing)電特性(xing)。本機中的測定器(qi)是測試(shi)各種(zhong)素材(cai)的靜(jing)電擴(kuo)散(san)性(xing)的靜(jing)電衰減測(ce)試(shi)儀器(qi)，試(shi)樣(yang)由於(yu)受(shou)到光暈放電(dian)產(chan)生(sheng)的空氣離(li)子(zi)照(zhao)射(she)而帶電，空氣(qi)離(li)子(zi)照(zhao)射(she)停(ting)止(zhi)後，通(tong)過測(ce)定(ding)器(qi)測出電荷的衰減曲(qu)線，然後由分(fen)析(xi)儀自動(dong)計(ji)算(suan)出電壓衰減的半衰期(qi)。

應(ying)用(yong)範圍(wei)：

1.用(yong)於(yu)實(shi)驗(yan)室(shi)分析(xi)材(cai)料自身的靜(jing)電特性(xing)、評估(gu)抗靜(jing)電添(tian)加劑(ji)的功效(xiao)、發展新(xin)型(xing)靜(jing)電防(fang)護(hu)材(cai)料；

2.用(yong)於(yu)在(zai)生(sheng)產制造(zao)領(ling)域作為(wei)產(chan)品質量控制設(she)備，依據(ju)各(ge)種(zhong)標(biao)準規範來(lai)進(jin)行靜(jing)電特性(xing)檢測(ce)和監(jian)測。

符(fu)合標(biao)準：

美(mei)國(guo)無(wu)紡(fang)布靜(jing)電衰減測(ce)試(shi)標(biao)準IST 40.2(01)

美(mei)國(guo)聯邦(bang)標(biao)準FED-STD-101C(Method 4046)

美(mei)國(guo)軍標(biao)MIL-B-81705C

美(mei)軍標(biao)MIL-PRF-81705D

中國(guo)GB 19082

中國(guo)軍標(biao)GJB2625

主要(yao)參(can)數(shu)：

環境溫度(du)測試(shi)範圍(wei)：0~40度(du)

環境濕度測(ce)試(shi)範圍(wei)：20~35%RH,不(bu)結露(lu)

高(gao)壓電(dian)源(yuan)：H.V(光暈放電(dian)電(dian)壓)0~10kVCAL(校準(zhun)電壓(ya))0~4kV

輸(shu)出信號：分(fen)析(xi)儀端口（分(fen)析(xi)儀）、SYNC端口（示(shi)波(bo)器(qi)）電壓0~±10V精(jing)度約(yue)10%

試(shi)驗(yan)臺(tai)旋(xuan)轉速(su)度：每(mei)分(fen)鐘(zhong)1000轉

電(dian)*度(du)調整：刻度(du)尺及(ji)高(gao)度調整旋(xuan)鈕(niu)

電(dian)源(yuan)：AC 100V±10%,50Hz

技(ji)術(shu)特點：

1.406D配置的磁吸棒用(yong)於(yu)薄(bo)膜(mo)和(he)布(bu)匹材(cai)料的測試(shi)，金(jin)屬(shu)夾(jia)具(ju)可(ke)以(yi)測試(shi)較厚(hou)的塊(kuai)狀(zhuang)物、發(fa)泡物或(huo)其(qi)他形(xing)狀和(he)質地的材(cai)料；2.選配IC管(guan)型(xing)夾(jia)具(ju)可(ke)以(yi)無損測(ce)試(shi)IC芯片(pian)包(bao)裝管(guan)；

3.選配806B無(wu)損測(ce)試(shi)電極(ji)可以(yi)直(zhi)接放置在試(shi)樣(yang)上(shang)，還可以(yi)測試(shi)粉體(ti)和液(ye)體靜(jing)電衰減時間(jian)；

4.配套(tao)法拉(la)第(di)測試(shi)籠提供(gong)壹個(ge)屏蔽(bi)空(kong)間(jian)，試(shi)樣(yang)放(fang)置在法拉(la)第(di)籠內(nei)進(jin)行測試(shi)，法拉(la)第(di)籠通(tong)過配套(tao)連(lian)接(jie)線(xian)連接406D主機；

5.法拉(la)第(di)籠具(ju)有互(hu)鎖裝置，打(da)開(kai)法拉(la)第(di)籠時，高(gao)壓電(dian)源(yuan)輸(shu)出被切斷(duan)；

6.STM-2驗(yan)證(zheng)模(mo)塊(kuai)提供(gong)壹個(ge)標(biao)準的電阻(zu)，電容(rong)直(zhi)接采取(qu)系(xi)統(tong)電(dian)容(rong)，通(tong)過測(ce)試(shi)STM-2標(biao)準模塊(kuai)可(ke)以(yi)驗(yan)證(zheng)是(shi)否正(zheng)常(chang)；

7.位(wei)於(yu)法拉(la)第(di)籠內(nei)的靜(jing)電壓(ya)探測頭可以(yi)卸下，放(fang)置在806B無(wu)損電(dian)極上後(hou)，可以(yi)直(zhi)接測試(shi)粉體(ti)、液(ye)體和(he)固(gu)體(ti)試(shi)樣(yang)；

8.顯示：指針式充電電(dian)壓(ya)表(biao)(右)、指針式試(shi)樣(yang)電(dian)壓表(biao)(左(zuo))、數顯計時器(qi)(中)，彩色(se)LED燈(deng)指示(shi)各個操(cao)作(zuo)進(jin)程(cheng)。

相(xiang)關(guan)功能(neng)：

1．衰減率(lv)的設定：衰減範(fan)圍(wei)可(ke)在(zai)2～100%範圍(wei)內(nei)自由設(she)定，半(ban)衰期(qi)設(she)定通(tong)常是(shi)50%。

2．測(ce)試(shi)數據(ju)的保存(cun)：可(ke)將測(ce)試(shi)數據(ju)作(zuo)為(wei)CSV文件保存(cun)至(zhi)電腦的HDD系統(tong)。便(bian)於(yu)日後(hou)查(zha)詢數(shu)據(ju)保(bao)存(cun)。

3．測(ce)試(shi)環境數據(ju)的保存(cun)：可(ke)自動(dong)測(ce)定(ding)溫(wen)濕度數(shu)據(ju)，並(bing)自動(dong)保(bao)存(cun)至(zhi)相應(ying)文件夾(jia)。

4．衰減曲(qu)線的表(biao)示(shi)：電壓(ya)坐(zuo)標(biao)和時間(jian)坐標(biao)可以(yi)同時放(fang)大(da)或(huo)縮小。測量後可以(yi)根據(ju)實(shi)際情況(kuang)自由變更(geng)。便於(yu)對(dui)不(bu)熟悉(xi)特性(xing)的試(shi)樣(yang)的觀察。

5．試(shi)樣(yang)測(ce)定方(fang)法：根據(ju)不(bu)同需求(qiu)可對(dui)試(shi)樣(yang)進(jin)行自動測試(shi)，手動測(ce)試(shi)，規定(ding)程(cheng)序(xu)測試(shi)。

6．校正(zheng)功能(neng)：可(ke)根據(ju)自(zi)身程(cheng)序(xu)進(jin)行電壓校正(zheng)。保(bao)證(zheng)測試(shi)數據(ju)的穩(wen)定(ding)性(xing)。