防(fang)護材(cai)料靜(jing)電衰減測(ce)試(shi)儀(yi)有哪些(xie)技術特(te)點

防(fang)護材(cai)料靜(jing)電衰減測(ce)試(shi)儀(yi)用(yong)於測(ce)試(shi)醫(yi)用(yong)fang護服材(cai)料、無(wu)紡布、紡織(zhi)服裝(zhuang)、非織(zhi)造(zao)布、復合材(cai)料、薄膜材(cai)料等試(shi)樣由(you)峰(feng)值(zhi)電(dian)壓衰減到(dao)10%的靜(jing)電衰減時(shi)間(jian)，常(chang)用(yong)於檢(jian)測醫(yi)用(yong)fang護服的抗靜(jing)電性能(neng)。

適用(yong)標準(zhun)：

GB 19082-2009《醫(yi)用(yong)壹(yi)次性fang護服技術要(yao)求》

YY 0867-2011《非織(zhi)造(zao)布靜(jing)電衰減時(shi)間(jian)的測試(shi)方法(fa)》

GB 33728-2017《紡織(zhi)品(pin)靜(jing)電性能(neng)的評定(ding)靜(jing)電衰減法(fa)》

IST40.2（01）《Standard Test Method for Electrostatic Decay of Nonwoven Fabrics》

主要(yao)參數(shu)：

1、儀(yi)器(qi)采(cai)用(yong)四部分(fen)模(mo)塊設(she)計(ji)：

1）±5000V電(dian)壓控(kong)制模(mo)塊(kuai)；

2）高(gao)壓放電模塊(kuai)；

3）衰減電(dian)壓隨機(ji)測(ce)試(shi)模(mo)塊(kuai)；

4）靜(jing)電衰減時(shi)間(jian)測(ce)試(shi)模(mo)塊(kuai)。

2、靜(jing)電電壓值的測量範圍(wei)：0～±5KV；

3、放(fang)電(dian)時間(jian)範(fan)圍(wei)：0～99.99 s/m/h，精(jing)度：±0.01s；

4、衰(shuai)減時(shi)間(jian)測(ce)試(shi)範(fan)圍(wei)：0～99.99s/m/h，精(jing)度：±0.01s；

5、試(shi)樣尺(chi)寸：89mm×（152±6）mm；

6、配置(zhi)計(ji)算(suan)機(ji)，自動控(kong)制試(shi)驗過程(cheng)，中(zhong)文操(cao)作(zuo)界面(mian)，自動數據(ju)處理，測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)自動保存(cun)、可(ke)查(zha)詢(xun)、可(ke)輸(shu)出(chu)。

技術特(te)點：

1.406D配置(zhi)的磁(ci)吸(xi)棒用(yong)於薄膜和布匹材(cai)料的測試(shi)，金(jin)屬夾(jia)具(ju)可(ke)以測試(shi)較厚的塊狀(zhuang)物、發(fa)泡物或其(qi)他(ta)形狀(zhuang)和質地的材(cai)料；2.選(xuan)配IC管型夾(jia)具(ju)可(ke)以無(wu)損測(ce)試(shi)IC芯片(pian)包裝(zhuang)管；

3.選(xuan)配806B無(wu)損測(ce)試(shi)電(dian)極(ji)可(ke)以直接(jie)放(fang)置(zhi)在(zai)試(shi)樣上(shang)，還可(ke)以測試(shi)粉(fen)體和液體靜(jing)電衰減時(shi)間(jian)；

4.配套法(fa)拉第測試(shi)籠(long)提供(gong)壹(yi)個(ge)屏蔽空間(jian)，試(shi)樣放(fang)置(zhi)在(zai)法(fa)拉第籠(long)內(nei)進(jin)行測(ce)試(shi)，法(fa)拉第籠(long)通(tong)過配套連接線連(lian)接(jie)406D主機(ji)；

5.法(fa)拉第籠(long)具(ju)有互(hu)鎖(suo)裝(zhuang)置(zhi)，打(da)開(kai)法(fa)拉第籠(long)時，高(gao)壓電源輸出(chu)被(bei)切斷；

6.STM-2驗證模(mo)塊(kuai)提(ti)供(gong)壹(yi)個(ge)標準(zhun)的電阻(zu)，電(dian)容(rong)直接(jie)采(cai)取(qu)系統(tong)電容(rong)，通(tong)過測試(shi)STM-2標(biao)準(zhun)模塊可(ke)以驗證是否(fou)正(zheng)常(chang)；

7.位(wei)於法(fa)拉第籠(long)內(nei)的靜(jing)電壓探測(ce)頭(tou)可(ke)以卸(xie)下，放(fang)置(zhi)在(zai)806B無(wu)損電(dian)極上(shang)後(hou)，可(ke)以直接(jie)測(ce)試(shi)粉(fen)體、液體和固體試(shi)樣；

8.顯(xian)示：指(zhi)針式充(chong)電(dian)電壓表(右)、指(zhi)針式試(shi)樣電(dian)壓表(左)、數顯(xian)計(ji)時(shi)器(qi)(中(zhong))，彩色LED燈指(zhi)示各個(ge)操(cao)作(zuo)進(jin)程(cheng)。