無紡(fang)布靜(jing)電(dian)衰(shuai)減測(ce)試(shi)儀技(ji)術(shu)特(te)點

無紡(fang)布靜(jing)電(dian)衰(shuai)減測(ce)試(shi)儀采用直(zhi)流充電法(fa)測(ce)試(shi)材料(liao)的(de)靜(jing)電(dian)衰(shuai)減特(te)征(zheng)，以評估(gu)其(qi)靜(jing)電(dian)特(te)性(xing)。

應用範(fan)圍：

1.用於(yu)實(shi)驗室分析材料(liao)自身的(de)靜(jing)電(dian)特(te)性(xing)、評估(gu)抗(kang)靜(jing)電(dian)添(tian)加(jia)劑的(de)功效、發(fa)展新型(xing)靜(jing)電(dian)防(fang)護材料(liao)；

2.用於(yu)在(zai)生(sheng)產制(zhi)造(zao)領域作(zuo)為(wei)產品(pin)質(zhi)量控制(zhi)設備(bei)，依據各種(zhong)標(biao)準規範(fan)來(lai)進行靜(jing)電(dian)特(te)性(xing)檢(jian)測(ce)和(he)監(jian)測(ce)。

符(fu)合(he)標準：

美國無紡(fang)布靜(jing)電(dian)衰(shuai)減測(ce)試(shi)標準IST 40.2(01)，美國聯(lian)邦(bang)標(biao)準FED-STD-101C(Method 4046)，MIL-B-81705C，MIL-PRF-81705D，GB 19082，GJB2625

技(ji)術(shu)參數(shu)：

1.充電電(dian)壓(ya)：0～5.5kV；

2.誤差(cha)期(qi)設置(zhi)：50%、10%、1%(0)；

3.電壓(ya)表(biao)量程：0-5kV；

4.計(ji)時(shi)器(qi)量程：1-99.99s；

5.計(ji)時(shi)分(fen)辨(bian)率(lv)：0.01s；

6.測(ce)試(shi)模式：手(shou)動、自動(只(zhi)能測(ce)試(shi)從(cong)5kV開(kai)始的(de)衰(shuai)減)；

7.自動測(ce)試(shi)次(ci)數(shu)：1-9次(ci)；

8.測(ce)試(shi)時(shi)間(jian)間(jian)隔：1-25秒(miao)；

9.輸(shu)入(ru)電源(yuan)：86-264VAC，50/60Hz。

技(ji)術(shu)特(te)點：

1.406D配置(zhi)的(de)磁(ci)吸(xi)棒(bang)用於(yu)薄(bo)膜和布匹材(cai)料(liao)的(de)測(ce)試(shi)，金屬(shu)夾(jia)具(ju)可(ke)以測(ce)試(shi)較厚(hou)的(de)塊狀物、發泡(pao)物或其(qi)他(ta)形狀(zhuang)和(he)質(zhi)地(di)的(de)材(cai)料(liao)；

2.選(xuan)配(pei)IC管型夾(jia)具(ju)可(ke)以無損測(ce)試(shi)IC芯(xin)片包(bao)裝(zhuang)管；

3.選(xuan)配(pei)806B無損測(ce)試(shi)電極可(ke)以直接放(fang)置(zhi)在(zai)試(shi)樣(yang)上，還(hai)可(ke)以測(ce)試(shi)粉體和(he)液(ye)體靜(jing)電(dian)衰(shuai)減時(shi)間(jian)；

4.配(pei)套法拉(la)第測(ce)試(shi)籠(long)提供壹(yi)個(ge)屏(ping)蔽(bi)空(kong)間，試(shi)樣(yang)放(fang)置(zhi)在(zai)法(fa)拉第籠(long)內(nei)進行測(ce)試(shi)，法拉第籠(long)通過(guo)配套連(lian)接線(xian)連(lian)接406D主機；

5.法(fa)拉(la)第籠(long)具有(you)互鎖(suo)裝(zhuang)置(zhi)，打(da)開(kai)法(fa)拉第籠(long)時(shi)，高(gao)壓(ya)電(dian)源(yuan)輸(shu)出被切斷(duan)；

6.STM-2驗證(zheng)模(mo)塊提供壹(yi)個(ge)標(biao)準的(de)電(dian)阻，電容(rong)直接采取(qu)系統電容(rong)，通過(guo)測(ce)試(shi)STM-2標準模(mo)塊可(ke)以驗證(zheng)是否正(zheng)常；

7.位(wei)於(yu)法(fa)拉第籠(long)內(nei)的(de)靜(jing)電(dian)壓(ya)探(tan)測(ce)頭(tou)可(ke)以卸(xie)下，放(fang)置(zhi)在(zai)806B無損電極(ji)上後，可(ke)以直接測(ce)試(shi)粉體、液(ye)體和(he)固(gu)體試(shi)樣(yang)；

8.顯(xian)示：指(zhi)針式充電電(dian)壓(ya)表(biao)(右)、指針式(shi)試(shi)樣(yang)電(dian)壓(ya)表(biao)(左)、數(shu)顯(xian)計時(shi)器(qi)(中)，彩色(se)LED燈指示(shi)各(ge)個操(cao)作進程。