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        1. 歡迎(ying)進(jin)入(ru)上(shang)海(hai)泛標紡(fang)織(zhi)品(pin)檢(jian)測技術有(you)限公(gong)司(si)網站!

          24小時熱線(xian)電(dian)話:13671843966
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          EN1149-3靜(jing)電衰(shuai)減測試儀技術(shu)特(te)點有(you)哪些

          更新(xin)時間(jian):2020-10-26點擊(ji)次數:1573

          EN1149-3靜(jing)電衰(shuai)減測試儀采(cai)用直流充電法測試材(cai)料(liao)的(de)靜(jing)電衰(shuai)減特征,以(yi)評估(gu)其靜(jing)電特(te)性(xing)。

          應用範圍(wei):

          1.用於實(shi)驗(yan)室分(fen)析材(cai)料(liao)自(zi)身(shen)的(de)靜(jing)電特(te)性(xing)、評(ping)估(gu)抗(kang)靜(jing)電添(tian)加劑(ji)的(de)功(gong)效、發展(zhan)新(xin)型靜(jing)電防(fang)護材(cai)料(liao);

          2.用於在(zai)生(sheng)產制造領域(yu)作(zuo)為(wei)產(chan)品(pin)質量(liang)控(kong)制設備(bei),依(yi)據各(ge)種(zhong)標準(zhun)規範來進(jin)行靜(jing)電特(te)性(xing)檢(jian)測和(he)監測。

          符合標準(zhun):

          美國(guo)無(wu)紡(fang)布靜(jing)電衰(shuai)減測試標準(zhun)IST 40.2(01),美國(guo)聯(lian)邦標準(zhun)FED-STD-101C(Method 4046),美國(guo)軍標MIL-B-81705C,美軍標MIL-PRF-81705D,中(zhong)國(guo)GB 19082,中國(guo)軍標GJB2625

          產(chan)品(pin)參(can)數:

          環(huan)境(jing)溫度測試範圍(wei):0~40度(du)

          環(huan)境(jing)濕度測試範圍(wei):20~35%RH,不(bu)結露

          高壓電源(yuan):H.V(光暈放電電壓)0~10kVCAL(校(xiao)準(zhun)電(dian)壓)0~4kV

          輸(shu)出(chu)信(xin)號:分(fen)析儀端口(分析儀)、SYNC端口(示(shi)波器(qi))電(dian)壓(ya)0~±10V精(jing)度約(yue)10%

          試(shi)驗(yan)臺旋(xuan)轉速度(du):每分(fen)鐘(zhong)1000轉(zhuan)

          電*度調整(zheng):刻度(du)尺(chi)及(ji)高(gao)度(du)調(tiao)整(zheng)旋鈕

          電源:AC 100V±10%,50Hz

          技(ji)術特(te)點:

          1.406D配(pei)置(zhi)的(de)磁(ci)吸(xi)棒(bang)用於薄(bo)膜(mo)和(he)布匹(pi)材(cai)料(liao)的(de)測試,金屬(shu)夾(jia)具(ju)可(ke)以測試較厚(hou)的(de)塊(kuai)狀物、發泡(pao)物(wu)或其他形(xing)狀和(he)質地的(de)材(cai)料(liao);

          2.選(xuan)配IC管型(xing)夾(jia)具(ju)可(ke)以無(wu)損(sun)測試IC芯片(pian)包裝管;

          3.選(xuan)配806B無(wu)損(sun)測試電極可(ke)以直接(jie)放置在試樣(yang)上(shang),還(hai)可(ke)以測試粉(fen)體(ti)和(he)液(ye)體(ti)靜(jing)電衰(shuai)減時間;

          4.配(pei)套法拉(la)第(di)測試籠提供壹(yi)個屏蔽空(kong)間,試(shi)樣放置在法拉(la)第(di)籠內(nei)進(jin)行測試,法拉(la)第(di)籠通過配套連(lian)接線(xian)連(lian)接406D主機;

          5.法拉(la)第(di)籠具(ju)有(you)互鎖(suo)裝置,打開法拉(la)第(di)籠時,高壓電源(yuan)輸(shu)出(chu)被(bei)切(qie)斷;

          6.STM-2驗(yan)證(zheng)模塊提供壹(yi)個標準(zhun)的(de)電(dian)阻,電容直接(jie)采(cai)取系(xi)統電(dian)容,通過測試STM-2標準(zhun)模塊可(ke)以驗(yan)證(zheng)是否正(zheng)常;

          7.位於法拉(la)第(di)籠內(nei)的(de)靜(jing)電壓(ya)探測頭可(ke)以卸下(xia),放置在806B無(wu)損(sun)電(dian)極上(shang)後(hou),可(ke)以直接(jie)測試粉(fen)體(ti)、液(ye)體(ti)和(he)固體(ti)試樣(yang);

          8.顯(xian)示(shi):指針(zhen)式充電電(dian)壓表(biao)(右(you))、指針(zhen)式試樣電壓(ya)表(biao)(左(zuo))、數顯(xian)計時器(qi)(中(zhong)),彩(cai)色(se)LED燈(deng)指示(shi)各(ge)個(ge)操作(zuo)進(jin)程。

          TEL:13671843966

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