摩(mo)擦帶(dai)電電荷量(liang)測(ce)試(shi)儀評估(gu)防(fang)護(hu)服防(fang)靜電性(xing)

摩(mo)擦帶(dai)電電荷量(liang)測(ce)試(shi)儀用於(yu)在(zai)試(shi)驗室條件(jian)下測(ce)試(shi)防(fang)護(hu)服等(deng)織物(wu)制品(pin)的(de)電荷面密(mi)度，評估(gu)防(fang)護(hu)服以(yi)摩(mo)擦(ca)形(xing)式(shi)帶(dai)電荷後的(de)靜電特(te)性(xing)。將(jiang)經過滾(gun)筒摩擦機摩擦後的(de)防(fang)護(hu)服試(shi)樣，投入(ru)法(fa)拉(la)第(di)筒(tong)內(nei)，以(yi)測(ce)量(liang)試(shi)樣的帶(dai)電量(liang)。
測(ce)試(shi)試(shi)樣：
防(fang)靜電服(fu)壹件（上、下衣(yi)均可）。

測(ce)試(shi)裝(zhuang)置：
1.摩(mo)擦裝(zhuang)置
回轉式(shi)滾(gun)筒(tong)摩(mo)擦機，其(qi)技(ji)術(shu)要求應符(fu)合(he)規(gui)定(ding)。
2.帶(dai)電量(liang)測(ce)試(shi)裝(zhuang)置
由(you)法(fa)拉(la)第(di)筒(tong)和(he)靜電電量(liang)測(ce)試(shi)儀組(zu)成(cheng)。
1——法(fa)拉(la)第(di)筒(tong)；
2——靜電電量(liang)測(ce)試(shi)儀；
3——絕緣(yuan)支架(jia)；
4——聚(ju)乙(yi)烯(xi)膠帶(dai)。
a.法(fa)拉(la)第(di)筒(tong)：內(nei)、外兩(liang)只(zhi)金屬(shu)制圓(yuan)筒(tong)，h內等(deng)於(yu)2d內、h外等(deng)於(yu)2d外、d內大於(yu)或等(deng)於(yu)40cm、d外等(deng)於(yu)d內＋10cm。
b.靜電電量(liang)測(ce)試(shi)儀：測(ce)量(liang)範圍(wei)：2nC～2μC，精(jing)度：±1%。
c.絕緣(yuan)支架(jia)：絕(jue)緣電阻(zu)在(zai)10的12次(ci)方Ω以(yi)上的(de)聚四(si)氟乙(yi)烯(xi)。
d.聚(ju)乙(yi)烯(xi)膠帶(dai)：絕緣(yuan)電阻(zu)在(zai)10的12次(ci)方Ω以(yi)上。
洗(xi)滌(di)與調(tiao)濕(shi)：
試(shi)樣在(zai)測(ce)試(shi)前(qian)須經洗(xi)滌(di)處(chu)理與調(tiao)濕(shi)。
1.洗(xi)滌(di)處(chu)理
按附錄C規(gui)定(ding)的(de)洗(xi)滌(di)方(fang)法(fa)進行(xing)洗(xi)滌(di)。
2.調(tiao)濕(shi)
經(jing)洗滌(di)後(hou)的(de)試(shi)樣，在(zai)（60士10)℃溫(wen)度(du)下幹燥1h後(hou)，在(zai)測(ce)試(shi)環(huan)境(jing)條件(jian)下，放(fang)置6h。
測(ce)試(shi)條件(jian)：
測(ce)試(shi)環(huan)境(jing)條件(jian)為溫(wen)度(du)（20士(shi)5) ℃，相(xiang)對濕(shi)度(du)（35±5）%。
註(zhu)：如(ru)果(guo)在(zai)非規(gui)定(ding)的(de)測(ce)試(shi)環(huan)境(jing)中測(ce)試(shi)，應在(zai)報(bao)告(gao)中註(zhu)明測(ce)試(shi)環(huan)境(jing)條件(jian)。
測(ce)試(shi)程(cheng)序：
1.將(jiang)試(shi)樣放入(ru)滾(gun)筒(tong)摩(mo)擦(ca)機中運轉(zhuan)15min。
2.將(jiang)試(shi)樣直接(jie)從(cong)滾(gun)筒摩擦(ca)機中自(zi)動進人(ren)(或(huo)戴(dai)絕緣(yuan)手套(tao)絕緣電阻(zu)在(zai)1012 Ω以(yi)上，直接(jie)取(qu)出(chu)，立(li)即投(tou)入(ru))法(fa)拉(la)第(di)筒(tong)內(nei)，此時應註(zhu)意(yi)試(shi)樣距離人體、金屬(shu)等(deng)物體(ti)300mm以(yi)上。
3.讀取(qu)靜電電量(liang)測(ce)試(shi)儀讀數，以(yi)μC計(ji)。
4.按附錄B中的B.6.1～B.6.3規(gui)定(ding)程(cheng)序，重復(fu)測(ce)試(shi)5次(ci)。每次(ci)測(ce)試(shi)與測(ce)試(shi)之(zhi)間，相(xiang)隔10min，在(zai)每次(ci)測(ce)試(shi)前(qian)，應對(dui)符(fu)合(he)GB 7568，5-2002的試(shi)樣和滾筒內襯標(biao)準布(bu)進行(xing)消(xiao)電處(chu)理。
測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)：
取(qu)5次測(ce)試(shi)的(de)平(ping)均(jun)值，為測(ce)量(liang)值。
註(zhu)：帶(dai)襯裏(li)的工(gong)作(zuo)服(fu)應將(jiang)襯裏(li)翻轉朝外，重復(fu)上述(shu)測(ce)試(shi)步(bu)驟，並將(jiang)結果(guo)記人報(bao)告(gao)中。防(fang)寒(han)服應拆(chai)除(chu)內(nei)膽後測(ce)試(shi)掛(gua)面(mian)及(ji)襯裏。