防(fang)護(hu)服(fu)靜電衰減(jian)性(xing)能測試儀試(shi)驗操作方(fang)法(fa)

標準(zhun)集(ji)團（香(xiang)港(gang)）有(you)限公司從(cong)事(shi)研發(fa)並(bing)生(sheng)產檢(jian)測儀器已20年(nian)，近(jin)期(qi)根(gen)據市(shi)場(chang)需(xu)求加(jia)大生(sheng)產口罩類，防(fang)護(hu)服(fu)類，熔噴(pen)布(bu)類全套(tao)檢(jian)測儀器，*，貨期短，部分(fen)有(you)現(xian)貨，歡迎需(xu)要(yao)采(cai)購的(de)客戶及(ji)時電(dian)詢！

防(fang)護(hu)服(fu)靜電衰減(jian)性(xing)能測試儀是(shi)測試各種(zhong)素(su)材靜電擴(kuo)散性(xing)的(de)儀(yi)器，試樣(yang)由於受(shou)到光(guang)暈(yun)放電(dian)產生(sheng)的(de)空(kong)氣(qi)離子照(zhao)射(she)而帶電(dian)，空(kong)氣(qi)離子照(zhao)射(she)停(ting)止後，通(tong)過測定器測出電荷的(de)衰減(jian)曲線(xian)，然後(hou)由分(fen)析儀自(zi)動計(ji)算(suan)出電壓(ya)衰減(jian)的(de)半衰期(qi)。

靜電分(fen)析儀V2是(shi)壹臺(tai)解(jie)析運算(suan)器，通(tong)過靜電測試儀獲取靜電衰減(jian)曲線(xian)，自(zi)動計(ji)算(suan)出電壓(ya)衰減(jian)的(de)半衰期(qi)，采用(yong)單鍵式操作，自(zi)動測量素材的(de)靜電衰減(jian)性(xing)。

連(lian)接個人(ren)電腦(nao)後(hou)可以實現如(ru)下(xia)功(gong)能：

①衰減(jian)率(半衰期(qi)通(tong)常(chang)設定50%)的(de)設定：2～100%；

②測試數據的(de)電(dian)腦(nao)數據保(bao)存(cun)；

③溫濕(shi)度數據自(zi)動保(bao)存(cun)至文件(jian)夾；

④電(dian)壓(ya)坐(zuo)標，時間(jian)坐(zuo)標都(dou)可以隨(sui)意放大或(huo)縮(suo)小；

適用(yong)於測量膠卷、薄(bo)板、絲(si)線(xian)、布料(liao)、地(di)毯(tan)、玻(bo)璃等(deng)所有(you)薄(bo)片狀(zhuang)試(shi)樣(yang)。

壹(yi)、靜電衰減(jian)測試儀校(xiao)準(zhun)準(zhun)備工作(zuo)：

A.請(qing)參照(zhao)下(xia)圖的(de)連(lian)接方(fang)法(fa)，把(ba)各裝(zhuang)置(zhi)連(lian)接起來(lai)。

B.按如(ru)下(xia)順(shun)序(xu)，接通(tong)各(ge)裝置(zhi)電源(yuan)。

C.請(qing)將(jiang)織(zhi)物(wu)靜電衰減(jian)測試儀的(de)校(xiao)準(zhun)測試模式切換為手(shou)動校(xiao)準(zhun)。

二、校準(zhun)作業(ye)：

1.啟(qi)動(dong)校準(zhun)軟(ruan)件(jian)[HONEST DATA ANALYZING SYSTEM V2·分(fen)析儀V2]。

2.點(dian)擊(ji)[Go to Proofreading Window·進入校(xiao)對(dui)窗(chuang)口]，切換至校對(dui)窗(chuang)口。

3.讀(du)取校(xiao)對(dui)數據。

讀(du)取電(dian)壓(ya)0.0kV的(de)校(xiao)對(dui)數據時(shi)，不要(yao)忘記關(guan)閉高(gao)壓(ya)輸(shu)出開關！

4.打(da)印校(xiao)對(dui)數據曲(qu)線(xian)圖（校(xiao)對(dui)窗(chuang)口）。

從(cong)菜單欄的(de)“文件(jian)”下(xia)拉(la)菜單中(zhong)選擇[打印]。