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靜電放電抗擾(rao)度(du)試(shi)驗的(de)新老標準(zhun)對(dui)比-GB/T 17626.2
更新時間:2020-05-19
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由於(yu)靜電放電抗擾(rao)度(du)試(shi)驗是(shi)眾多(duo)抗擾(rao)度(du)試(shi)驗中使用次數比較(jiao)多(duo),同時也是(shi)比較(jiao)難(nan)於(yu)通過(guo)的(de)壹(yi)個(ge)試驗,所以這(zhe)項(xiang)試驗也是(shi)試(shi)驗人(ren)員、產(chan)品(pin)設(she)計(ji)人(ren)員議(yi)論(lun)多(duo)的(de)壹(yi)項試(shi)驗。自從(cong)靜電放電抗擾(rao)度(du)試(shi)驗標準(zhun)頒布以來(lai),受(shou)到(dao)了上的(de)廣(guang)泛(fan)註意,納(na)入眾多(duo)的(de)產品(pin)族和產(chan)品(pin)標(biao)準(zhun),成為(wei) 壹(yi) 個(ge) 重(zhong) 要(yao) 的(de) 抗 幹(gan) 擾(rao) 測 試 手(shou) 段 。 在 我 國,現(xian) 行(xing) 的(de) 靜 電 放 電 抗 擾(rao) 度(du) 試(shi) 驗標準(zhun) 是(shi)GB/T17626.2-2006 , 它(ta) 對(dui) 應 於(yu) 國 際(ji) 標 準(zhun) IEC61000-4-2 : 2001 。 近(jin) 日(ri) 通 過(guo) 對(dui)GB/T17626.2-2006 的(de)學(xue)習(xi),對(dui)靜電放電抗擾(rao)度(du)試(shi)驗有(you)了更新的(de)認識,覺(jiao)得(de)新標準(zhun)對(dui)試驗方(fang)法(fa)的(de)細節有(you)了新的(de)規定(ding),標(biao)準(zhun)的(de)這些(xie)規定(ding)對(dui)規範(fan)試(shi)驗,提高(gao)試(shi)驗的(de)可比性(xing)和(he)重(zhong)復性(xing)很(hen)有(you)好(hao)處(chu)。
今將(jiang)標(biao)準(zhun)閱(yue)讀中(zhong)的(de)部(bu)分(fen)不同於(yu)老版標準(zhun)的(de)內容(rong)整理出(chu)來,希(xi)望(wang)對(dui)理解標準(zhun)和正(zheng)確(que)掌握試(shi)驗方(fang)法(fa)能有(you)所幫助(zhu)。
GB/T 17626.2 的(de) 1998 年(nian)版標準(zhun),沒有(you)具(ju)體(ti)提到(dao)關(guan)於(yu)不接地的(de)設(she)備(bei)的(de)試驗方(fang)法(fa),在新標準(zhun)中對(dui)這類(lei)設(she)備(bei)的(de)試驗方(fang)法(fa)作了詳細(xi)的(de)規定(ding)。
不(bu)接地的(de)設(she)備(bei)的(de)試驗方(fang)法(fa)適用於(yu)安裝規範(fan)或(huo)設(she)計(ji)不與任(ren)何(he)接地系統連(lian)接的(de)設(she)備(bei)或(huo)設(she)備(bei)部(bu)件(jian)。設(she)備(bei)或(huo)設(she)備(bei)部(bu)件(jian),包括便(bian)攜(xie)式(shi)、電池供(gong)電和雙(shuang)重(zhong)絕緣設(she)備(bei)(Ⅱ類(lei)設(she)備(bei))。
基本原(yuan)理:不(bu)接地設(she)備(bei)或(huo)設(she)備(bei)的(de)不接地部(bu)件(jian)不(bu)能(neng)如(ru)Ⅰ類(lei)供(gong)電設(she)備(bei)自行(xing)放(fang)電。若在下(xia)壹(yi)個(ge)靜電放電脈(mai)沖施(shi)加(jia)前(qian)電荷未(wei)消除(chu),受試(shi)設(she)備(bei)或(huo)受試設(she)備(bei)的(de)部(bu)件(jian)上(shang)的(de)電荷累積可能電壓為(wei)預期(qi)試(shi)驗電壓的(de)兩(liang)倍(bei)。因(yin)此(ci),雙(shuang)重(zhong)絕緣設(she)備(bei)的(de)絕緣體(ti)電容(rong)經過幾次靜電放電累積,可能充電至異常高(gao),然(ran)後以高(gao)能(neng)量(liang)在絕緣擊穿(chuan)電壓處(chu)放電。
為模(mo)擬單(dan)次靜電放電(空氣放(fang)電或者(zhe)接觸(chu)放(fang)電),在施(shi)加(jia)每個(ge)靜電放電脈(mai)沖之前(qian)應消除(chu)受試(shi)設(she)備(bei)上(shang)的(de)電荷。
在施(shi)加(jia)每個(ge)靜電放電脈(mai)沖之前(qian),應消除(chu)施(shi)加(jia)靜電放電脈(mai)沖的(de)金屬(shu)點或(huo)部(bu)位(wei)上的(de)電荷,如(ru)連(lian)接器(qi)外(wai)殼、電池充(chong)電插腳、金屬天(tian)線。
當(dang)對(dui)壹(yi)個(ge)或幾個(ge)可接觸(chu)到(dao)的(de)金屬(shu)部(bu)分(fen)進行(xing)靜電放電試驗,由於(yu)不保證能(neng)給(gei)出(chu)產品(pin)上(shang)該點和(he)其(qi)他點間(jian)的(de)電阻,應消除(chu)施(shi)加(jia)靜電放電點的(de)電荷。應使用類(lei)似(si)於(yu)水平(ping)耦(ou)合(he)板和(he)垂(chui)直耦(ou)合(he)板用的(de)帶有(you) 470kΩ泄(xie)放(fang)電阻的(de)電纜。
因(yin)受(shou)試設(she)備(bei)和(he)水平(ping)耦(ou)合(he)板(臺(tai)式(shi))之間(jian)以及(ji)受(shou)試設(she)備(bei)和(he)接地參考(kao)平(ping)面(落地式)之間(jian)的(de)電容(rong)取決於(yu)受試(shi)設(she)備(bei)的(de)尺寸,靜電放電試驗時,如(ru)果功(gong)能允(yun)許,應安(an)裝帶泄(xie)放(fang)電阻的(de)電纜。放(fang)電電纜的(de)壹(yi)個(ge)電阻應盡(jin)可能靠近(jin)受試設(she)備(bei)的(de)試驗點,好(hao)小於(yu) 20mm。第二(er)個(ge)電阻應靠(kao)近(jin)電纜的(de)末端,對(dui)於(yu)臺式(shi)設(she)備(bei)電纜連(lian)接於(yu)水平(ping)耦(ou)合(he)板上(shang)(見(jian)圖(tu) 1),對(dui)於(yu)立式(shi)設(she)備(bei)電纜連(lian)接於(yu)接地參考(kao)平(ping)面上(見圖 2)。

帶(dai)泄(xie)放(fang)電阻電纜的(de)存在會(hui)影(ying)響(xiang)某(mou)些(xie)設(she)備(bei)的(de)試驗結(jie)果。有(you)爭(zheng)議(yi)時,若在連(lian)續(xu)放電之間(jian)電荷能(neng)有(you)效地衰(shuai)減(jian),施(shi)加(jia)靜電放電脈(mai)沖時斷開(kai)電纜的(de)試驗優先(xian)於(yu)連(lian)接上(shang)電纜的(de)試驗。
以下(xia)選(xuan)擇(ze)可作為替代(dai)方(fang)法(fa):
連(lian)續(xu)放電的(de)時間間(jian)隔(ge)應長於(yu)受試(shi)設(she)備(bei)的(de)電荷自然(ran)衰(shuai)減(jian)所需(xu)的(de)時間;使用帶泄(xie)放(fang)電阻和(he)碳(tan)纖(xian)維刷(shua)的(de)接地電纜(例(li)如(ru),2×470kΩ);使用加速受試設(she)備(bei)的(de)電荷“自然(ran)”泄(xie)放(fang)到(dao)環(huan)境的(de)空氣-離(li)子(zi)發生器(qi)。當(dang)施(shi)加(jia)空(kong)氣放(fang)電時,離子(zi)發(fa)生器(qi)應關(guan)閉(bi)。
在新版的(de)靜電放電抗擾(rao)度(du)表準(zhun)中對(dui)直接放(fang)電中的(de)不施(shi)加(jia)的(de)放電點有(you)了具(ju)體(ti)的(de)規定(ding)。放(fang)電不施(shi)加(jia)在下(xia)述點:
a) 在維修(xiu)時才接觸(chu)得(de)到(dao)的(de)電和表面。
b) 終用戶保養是(shi)接觸(chu)到(dao)的(de)點和(he)表面。這些(xie)極(ji)少(shao)接觸(chu)到(dao)的(de)店,如(ru)換(huan)電池時接觸(chu)到(dao)的(de)電池、錄音電話(hua)中(zhong)的(de)磁帶(dai)等(deng)。
c) 設(she)備(bei)安(an)裝固定(ding)後或按使用說(shuo)明(ming)使用後不再(zai)能接觸(chu)到(dao)的(de)點和(he)面,例(li)如(ru),底(di)部(bu)和(he)或設(she)備(bei)的(de)靠墻面或安裝端子(zi)後的(de)地方(fang)。
d) 外(wai)殼為金(jin)屬的(de)同軸(zhou)連(lian)接器(qi)和(he)多(duo)芯連(lian)接器(qi)可接觸(chu)到(dao)的(de)店。該情(qing)況(kuang)下,僅對(dui)連(lian)接器(qi)的(de)外(wai)殼施(shi)加(jia)接觸(chu)放(fang)電。非導(dao)電(例(li)如(ru),塑(su)料)連(lian)接器(qi)內可接觸(chu)到(dao)的(de)點,應只(zhi)進行(xing)空(kong)氣放(fang)電試驗。試驗使用靜電放電發生器(qi)的(de)圓形(xing)電極頭(tou)。通常,應考(kao)慮以下(xia)六種(zhong)情(qing)況(kuang):

e) 由於(yu)功(gong)能原(yuan)因對(dui)靜電放電敏(min)感(gan)並有(you)靜電放電警告標簽的(de)連(lian)接器(qi)或(huo)其(qi)他接觸(chu)部(bu)分(fen)可接觸(chu)到(dao)的(de)點,如(ru)測量(liang)、接收或(huo)其(qi)他通(tong)訊(xun)功(gong)能的(de)射頻輸(shu)入端(duan)。
對(dui)水平(ping)耦(ou)合(he)板施(shi)加(jia)放(fang)電的(de)方(fang)法(fa)在新版和老版標準(zhun)中存在較(jiao)大差異(yi)。老(lao)版標準(zhun)中提到(dao)在放(fang)電電極觸(chu)及(ji)耦(ou)合(he)板的(de)情況(kuang)下,應將(jiang)靜電放電放生器(qi)垂(chui)直地置於(yu)與受(shou)試設(she)備(bei)為(wei)0.1m處(chu)(見圖(tu) 3)。
而(er)新版標準(zhun)中則(ze)規定(ding)對(dui)水平(ping)耦(ou)合(he)板放(fang)電應在水平(ping)方(fang)向對(dui)其邊(bian)緣施(shi)加(jia)。在距(ju)受試(shi)設(she)備(bei)每個(ge)單元(yuan)(若(ruo)適用)中心點前(qian)面的(de) 0.1m 處(chu)水平(ping)耦(ou)合(he)板邊(bian)緣,至少(shao)施(shi)加(jia) 10 次單次放電(以敏(min)感(gan)的(de)極性(xing))。放(fang)電時,放電電極的(de)長軸(zhou)應處(chu)在水平(ping)耦(ou)合(he)板的(de)平(ping)面,並與其前(qian)面的(de)邊(bian)緣垂(chui)直。放(fang)電電極應接觸(chu)水平(ping)耦(ou)合(he)板的(de)邊(bian)緣(見圖(tu) 4)。

對(dui)試驗結(jie)果的(de)評價(jia)在新版標準(zhun)中也有(you)壹(yi)些(xie)新的(de)變化。新版標準(zhun)規定(ding)試(shi)驗結(jie)果應依據受(shou)試設(she)備(bei)在試(shi)驗中的(de)功(gong)能喪(sang)失(shi)或性(xing)能(neng)降(jiang)低(di)現(xian)象進行(xing)分(fen)類(lei),相(xiang)關(guan)的(de)性(xing)能(neng)水平(ping)由設(she)備(bei)的(de)制(zhi)造商(shang)或(huo)需(xu)要方(fang)確(que)定,或由產品(pin)的(de)制(zhi)造商(shang)和(he)購買方(fang)雙(shuang)方(fang)協(xie)商同意(yi)。推薦按如(ru)下要(yao)求(qiu)分(fen)類(lei):
a) 在制(zhi)造商(shang)、委(wei)托方(fang)或(huo)購(gou)買方(fang)規定(ding)的(de)限(xian)值內性(xing)能(neng)正(zheng)常;
b) 功(gong)能或(huo)性(xing)能(neng)暫(zan)時喪(sang)失(shi)或降(jiang)低(di),但(dan)在騷擾(rao)停(ting)止(zhi)後能自行(xing)恢(hui)復,不(bu)需(xu)要操(cao)作者(zhe)幹(gan)預;
c) 功(gong)能或(huo)性(xing)能(neng)暫(zan)時喪(sang)失(shi)或降(jiang)低(di),但(dan)需(xu)操作者(zhe)幹(gan)預才能恢(hui)復;
d) 因(yin)設(she)備(bei)硬件(jian)或(huo)軟件(jian)損(sun)壞,或數據丟(diu)失(shi)而(er)造成(cheng)不(bu)能恢(hui)復的(de)功(gong)能喪(sang)失(shi)或性(xing)能(neng)降(jiang)低(di)。
由制(zhi)造商(shang)提出(chu)的(de)技術規範(fan)可以規定(ding)對(dui)受試(shi)設(she)備(bei)產(chan)生的(de)某些(xie)影(ying)響(xiang)是(shi)不(bu)重(zhong)要(yao)的(de),因而(er)是(shi)可接受(shou)試(shi)驗影(ying)響(xiang)。
這(zhe)種(zhong)分(fen)類(lei)可以由負責(ze)相(xiang)關產品(pin)的(de)通用標準(zhun)、產品(pin)標(biao)準(zhun)和產(chan)品(pin)類(lei)標(biao)準(zhun)的(de)專業(ye)標(biao)準(zhun)化技(ji)術委員(yuan)會(hui)作為明(ming)確(que)表達(da)功(gong)能準(zhun)則的(de)指(zhi)南。在沒(mei)有(you)合(he)適的(de)通用、產品(pin)或(huo)產(chan)品(pin)類(lei)標(biao)準(zhun)時,可作為制(zhi)造商(shang)和(he)購買方(fang)協(xie)商的(de)性(xing)能(neng)規範(fan)的(de)框架(jia)。

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