機械(xie)式與數(shu)字(zi)式(shi)的(de)織(zhi)物撕(si)裂強(qiang)度測(ce)試儀(yi)

織(zhi)物撕(si)裂強(qiang)度測(ce)試儀(yi)是(shi)用來(lai)測(ce)試機織(zhi)物撕(si)破強力(li)的(de)測(ce)試儀(yi)器。目(mu)前(qian)大(da)多(duo)數廠家使(shi)用的(de)撕裂儀(yi)是(shi)機械(xie)式落錘(chui)撕(si)裂儀(yi)。然(ran)而，數(shu)字(zi)落錘(chui)式(shi)撕裂強(qiang)度測(ce)試儀(yi)要(yao)優(you)於(yu)機械(xie)式落錘(chui)撕(si)裂儀(yi)。下(xia)面(mian)上(shang)海(hai)泛(fan)標為(wei)您(nin)介(jie)紹(shao)兩(liang)者(zhe)間(jian)的比(bi)較：

機械(xie)式落錘(chui)撕(si)裂儀(yi)：指(zhi)針觀(guan)察，誤(wu)差大(da)
傳(chuan)統(tong)的機械(xie)式落錘(chui)撕(si)裂儀(yi)的(de)撕裂力(li)F本(ben)質(zhi)上(shang)由角度表示，折算為(wei)力(li)的(de)數(shu)值(zhi)印在(zai)刻度盤(pan)上(shang)，固(gu)定(ding)在(zai)扇(shan)形擺(bai)的(de)邊(bian)沿。工作中用指(zhi)針的(de)方(fang)法(fa)來(lai)指(zhi)示力(li)值(zhi)，由於(yu)指(zhi)針指(zhi)示(shi)的(de)力(li)值(zhi)刻度盤(pan)在(zai)實際(ji)制作中存在(zai)較(jiao)人(ren)誤(wu)差，力(li)值(zhi)在(zai)0-16N時，力(li)值(zhi)越(yue)大(da)，角度越大(da)，是線(xian)性函數遞增(zeng)的(de)。而實際(ji)制作標牌(pai)時，只(zhi)將每壹(yi)單位力(li)值(zhi)按設計角度制作，中間(jian)值采(cai)用等分(fen)法(fa)確定(ding)。在(zai)0-16N測(ce)力(li)檔(dang)時力(li)值(zhi)分(fen)度值還是較高，但是到(dao)了(le)0-32N 和(he)0-64N時每(mei)個分度值裏包(bao)含(han)了(le)更(geng)多(duo)力(li)值(zhi)，因(yin)此(ci)度誤(wu)差越來(lai)越(yue)大(da)。同時用眼(yan)睛觀(guan)察讀(du)數也(ye)產(chan)生較(jiao)大(da)的誤(wu)差。因此，所(suo)檢(jian)測(ce)到(dao)的(de)撕裂力(li)的(de)精(jing)度較低。

數字(zi)式(shi)落錘(chui)織(zhi)物撕(si)裂儀(yi)：光(guang)耦檢(jian)測(ce)閱歷，精(jing)度更高
數字(zi)式(shi)落錘(chui)撕(si)裂儀(yi)用於(yu)測(ce)定(ding)扇(shan)形擺(bai)錘(chui)動(dong)能的衰(shuai)減量(liang)，即(ji)測(ce)定(ding)在(zai)某(mou)壹(yi)點的角速(su)度產(chan)生的(de)衰(shuai)減量(liang)來(lai)確定(ding)撕裂試樣(yang)的力(li)。采(cai)用光(guang)耦檢(jian)測(ce)的原理(li)，檢(jian)測(ce)出(chu)扇(shan)形擺(bai)撕(si)裂試樣(yang)後檢(jian)測(ce)點的瞬時速(su)度，通過芯片處(chu)理(li)而得出(chu)相應(ying)的撕(si)裂力(li)數(shu)值(zhi)，取(qu)消(xiao)了(le)指(zhi)針(zhen)和(he)刻度盤(pan)，簡(jian)化(hua)了(le)結(jie)構(gou)，具(ju)有檢(jian)測(ce)精度高、讀數方便的特點。
數字(zi)式(shi)織(zhi)物撕(si)裂儀(yi)使(shi)用時，當扇(shan)形擺(bai)撕(si)裂試樣(yang)後，光(guang)耦檢(jian)測(ce)片沿其回轉軌(gui)跡(ji)滑過(guo)光(guang)耦檢(jian)測(ce)器，光(guang)耦檢(jian)測(ce)器采(cai)集(ji)信(xin)號(hao)並輸送到(dao)電(dian)路(lu)板中的芯片進(jin)行(xing)處理(li)，進(jin)而得出(chu)光(guang)耦檢(jian)測(ce)片經(jing)過(guo)光(guang)耦檢(jian)測(ce)器的瞬(shun)時速(su)度，計算得出(chu)相應(ying)的撕(si)裂力(li)數(shu)值(zhi)，從(cong)微(wei)機的(de)顯示器或(huo)機座(zuo)上(shang)的(de)顯(xian)示(shi)屏(ping)上(shang)直(zhi)接看(kan)到(dao)。數(shu)字(zi)式(shi)織(zhi)物撕(si)裂儀(yi)得出(chu)的(de)力(li)值(zhi)，是(shi)在(zai)測(ce)得每次(ci)測(ce)試時不同的(de)角速(su)度時，芯(xin)片自(zi)動(dong)計算得出(chu)的(de)壹(yi)個的力(li)值(zhi)，然(ran)後從顯示屏(ping)中直接看(kan)到(dao)。其(qi)新型測(ce)量的(de)結(jie)果(guo)更，同(tong)時也(ye)簡(jian)化(hua)了(le)結(jie)構(gou)，讀(du)數方便。